Occasion JEOL JSM 6320F #9144812 à vendre en France

JEOL JSM 6320F est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent (SEM), capable d'une variété de mesures et de techniques d'imagerie. JSM 6320F utilise une colonne électronique avec une tension d'accélération maximale de 30 kV, ce qui la rend idéale pour une gamme d'études allant des échantillons biologiques aux semi-conducteurs. La colonne est équipée d'un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille, qui fournit une imagerie haute performance des échantillons. Le détecteur d'électrons secondaire est capable de distinguer et de mettre en évidence les caractéristiques de surface, telles que les puits, les particules et les dommages induits par le faisceau d'électrons. La chambre Everhigh en colonne, fournit les niveaux de vide les plus élevés possibles pour une évacuation rapide de la chambre et une résolution améliorée des images ultérieures. Un système gonflable de soufflet de porte est également utilisé pour assurer des niveaux de pression optimaux dans la chambre. Le système Hi-bright de la SEM fournit un éclairage de haute luminosité pour jusqu'à trois objets simultanément, et utilise un écran anti-reflet à base de scintillateur pour réduire le bruit de fond présent dans l'acquisition d'image. L'imagerie simultanée en champ lumineux/sombre est également disponible pour une visualisation optimale des caractéristiques fines de la surface. L'instrument est également capable de réaliser différents modes d'imagerie basse tension (LVI). L'imagerie LVI est parfaite pour l'imagerie d'échantillons organiques à basse tension et avec des dommages minimaux au faisceau. Cette technique permet d'améliorer le contraste et la résolution, et permet d'obtenir des informations qui ne seraient pas visibles avec une imagerie électronique secondaire régulière. Le microscope est capable d'une variété de techniques de mesure spéciales, telles que la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), une méthode d'analyse de composition in situ des matériaux de l'échantillon. Cette technique est essentielle pour la caractérisation et l'identification des matériaux. JEOL JSM 6320F supporte également un étage automatique capable de positionner avec précision l'échantillon pour des conditions d'imagerie optimales. Les réglages de scène peuvent être facilement manipulés pour l'articulation des vues SEM, y compris les rotations à 360 degrés, les réglages pour la visualisation inclinée et l'imagerie transversale. En conclusion, JSM 6320F est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent, capable d'une variété de techniques d'imagerie et de mesure. Ses systèmes de vide et d'éclairage supérieurs offrent des performances exceptionnelles pour toute une gamme d'applications.