Occasion JEOL JSM 6320F #9210319 à vendre en France

JEOL JSM 6320F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui utilise des optiques électroniques avancées et des détecteurs pour l'imagerie d'échantillons à l'échelle atomique et nanométrique. Il est capable de produire de superbes images haute résolution, même les plus beaux détails. Le 6320F fournit une imagerie supérieure avec un champ de vision pouvant atteindre 54 µm et une résolution HD de 4,1 nm. Le faisceau d'électrons est accéléré par un aimant unipolaire de 20 pôles qui aide à augmenter la résolution de courant et de résolution spatiale pour obtenir des images détaillées avec un contraste et une clarté élevés. Le 6320F est également équipé d'une variété de porte-spécimens et d'étages conçus pour traiter une variété de types d'échantillons et de tailles. Il peut accueillir des échantillons jusqu'à 200 mm de diamètre et une hauteur maximale de 120 mm. Sa plage de réglage d'étage est jusqu'à 40mm dans les directions X et Y, permettant une visualisation ergonomique facile des échantillons. Le SEM est également équipé d'un double équipement de détection, conçu pour permettre aux utilisateurs de tirer le meilleur parti de leurs spécimens. Il existe un détecteur d'électrons secondaires (SE) qui détecte les électrons qui sont diffusés de l'échantillon pour l'imagerie en champ lumineux. Cela permet d'identifier différents matériaux sur l'échantillon ainsi que la capacité de détecter les contrastes d'une variété de matériaux. De plus, le détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) est destiné à capturer de grandes images de contraste élevé pour analyser la surface de l'échantillon. Grâce à son optique électronique avancée, le 6320F est capable d'imagerie à des résolutions allant jusqu'à 10.000x grossissement. Il est également équipé de systèmes de commande de surface et de commande de porte extérieure pour l'atmosphère de l'échantillon et les conditions environnementales. Le système de contrôle de la porte extérieure est conçu pour minimiser les changements dans les conditions d'air, tandis que l'unité de contrôle de l'échantillon est responsable de maintenir l'émissivité électronique de l'échantillon uniforme pour une clarté supérieure de l'image. JSM 6320F est un véritable SEM révolutionnaire qui offre des possibilités d'imagerie remarquables. Avec sa machine à double détecteur d'électrons, sa conception optique avancée et son étage de spécimens ergonomiques, il est l'instrument parfait pour l'imagerie à l'échelle atomique et nanométrique. Ses images haute résolution et sa représentation précise des matériaux en font un outil indispensable pour la recherche, les fabricants et l'industrie.