Occasion JEOL JSM 6320F #9210344 à vendre en France

JEOL JSM 6320F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans l'analyse des matériaux. Il s'agit d'un système de micro-imagerie et de microanalyse standard de l'industrie pour l'analyse des caractéristiques macroscopiques des sous-microns. Il est capable de visualiser les caractéristiques fines des échantillons, comme les pores et les limites des grains, avec une résolution allant jusqu'à 0,06nm et fournit l'imagerie statistique, l'information analytique et la modélisation 3D. JSM 6320F est équipé d'une optique électronique et de détecteurs avancés qui permettent à l'utilisateur d'obtenir des performances analytiques maximales. Les capacités d'imagerie du 6320F peuvent être utilisées pour analyser la taille et l'orientation des grains, la rugosité de surface, la microscopie et de nombreuses autres applications. Avec un champ de vision annulaire SEM imagerie, JEOL JSM 6320F fournit une combinaison de grande profondeur de champ, des images haute résolution, et un champ de vision amélioré. Les capacités analytiques du 6320F comprennent la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), qui permet à l'utilisateur d'analyser la composition élémentaire des échantillons. En outre, l'environnement électronique à vide et basse tension de JSM 6320F fournit des images de haute qualité des échantillons sans qu'il soit nécessaire de préparer des échantillons lourds. JEOL JSM 6320F convient à un large éventail d'industries, telles que la métallurgie, l'automobile, l'électronique et l'alimentation. Le 6320F offre aux utilisateurs une opération simple qui est prise en charge sur les systèmes d'exploitation Windows XP et Windows Vista. Le 6320F a une capacité de 2 échantillons et 5 détecteurs, ce qui permet à l'utilisateur d'analyser un large éventail de types d'échantillons. En résumé, JSM 6320F est un microscope électronique à balayage standard de l'industrie utilisé pour l'analyse des matériaux. Il est capable de visualiser les caractéristiques fines des échantillons avec une résolution allant jusqu'à 0,06nm et fournit l'imagerie statistique, l'information analytique et la modélisation 3D. Le 6320F offre aux utilisateurs une opération simple et la capacité d'analyser un large éventail de types d'échantillons. Ce microscope convient à un large éventail d'industries, ce qui en fait un outil puissant pour l'analyse des matériaux.