Occasion JEOL JSM 6320F #9232338 à vendre en France

JEOL JSM 6320F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (SEM) disponible pour l'imagerie haute résolution de nombreux types d'échantillons. Il est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) très efficace et d'un détecteur numérique à colonne pour l'imagerie, et une gamme complète de commandes permet un balayage et une imagerie précis. JSM 6320F est capable de générer des images très détaillées avec une résolution allant jusqu'à 2,5 nm, tandis qu'un système à pression variable permet l'observation d'échantillons non conducteurs avec une préparation minimale ou nulle d'échantillons. JEOL JSM 6320F a une tension d'accélération allant de 1 kV à 30 kV et est capable de générer un faisceau stable et uniforme avec une imagerie à faible bruit même à fort grossissement. Le spectromètre à dispersion d'énergie dans la colonne (EDS) du microscope permet la détection et l'analyse des éléments lumineux, tandis qu'un système de navigation automatisé guide l'utilisateur dans l'alignement des échantillons. Les fonctions automatisées telles que la stabilisation de l'inclinaison et la couture de l'image réduisent le temps nécessaire à la caractérisation complète d'un échantillon. JSM 6320F a une conception unique qui comprend une colonne optique souple et bien éclairée et un étage ergonomique, équilibré dans l'air, qui garantit une navigation précise et aide à prévenir la dérive des échantillons. Des configurations d'imagerie facilement personnalisables permettent la génération d'images détaillées dans une gamme de matériaux et à des grossissements variables. En outre, le microscope est bien adapté pour des applications telles que la microanalyse, l'analyse de plaques coulées, le microbrassage et l'analyse granulométrique. JEOL JSM 6320F est un outil complet conçu pour permettre l'imagerie haute résolution d'une grande variété d'échantillons. Grâce à son investissement avancé dans la technologie d'émission sur le terrain et ses fonctions d'imagerie complètes, le microscope offre aux utilisateurs une résolution et un contrôle sans précédent pour analyser efficacement les échantillons.