Occasion JEOL JSM 6320FZ #9386490 à vendre en France

JEOL JSM 6320FZ est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) avec une multitude de caractéristiques puissantes et polyvalentes. Il se caractérise par ses excellentes performances sous vide, sa capacité d'émission sur le terrain et sa capacité d'analyse améliorée. La première caractéristique notable de JSM 6320FZ est sa capacité de source d'émission sur le terrain. Cela permet au microscope de fonctionner dans de faibles conditions de vide et réduit le risque de dommages aux échantillons. La source d'émission sur le terrain offre également un haut degré de stabilité et de contrôle précis, assurant une résolution maximale et des performances d'image. JEOL JSM 6320FZ est également installé avec un équipement d'imagerie numérique rapide et haute résolution, qui permet aux chercheurs d'acquérir des images haute résolution d'échantillons avec des distorsions minimales. Ce système intègre des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffuseurs pour améliorer le contraste et le détail de l'image. Il dispose d'une unité d'imagerie STEM innovante, qui offre une résolution supérieure combinée à un contraste et un détail d'imagerie améliorés. En outre, JSM 6320FZ est équipé de capacités analytiques avancées, y compris la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Ces techniques permettent aux chercheurs d'identifier et d'analyser la composition élémentaire et la structure cristallographique des échantillons. JEOL JSM 6320FZ comprend un étage à vide ultra-élevé, qui offre une stabilité de tension d'accélération supérieure pour améliorer les performances du faisceau d'électrons. En outre, JSM 6320FZ est conçu avec une machine de mouvement de spécimen avancée, qui est capable de positionner rapidement et précisément des échantillons pour une imagerie et une analyse optimales. Il comprend une variété d'options de scène motorisée, ainsi qu'un réglage automatique de l'inclinaison, de l'alignement et de l'agrandissement. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6320FZ est un microscope électronique à balayage haute performance avec une série de fonctionnalités et de capacités analytiques. Il offre une excellente capacité d'émission sur le terrain, assurant des images à haute résolution et des dommages minimisés aux échantillons. Avec une phase de vide ultra-haute, des options d'imagerie et d'analyse avancées et des capacités de réglage fin automatisées, JSM 6320FZ est un outil puissant pour les chercheurs en microscopie.