Occasion JEOL JSM 6335F #293609259 à vendre en France

JEOL JSM 6335F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie d'échantillons et la mesure de la topographie de surface. Il s'agit d'un SEM à émission de champ (FE-SEM) équipé d'un pistolet à émission de champ froid (Cold Field Emission GF) pour l'imagerie et la charge optimale des échantillons. Cela permet d'augmenter le courant du faisceau d'électrons, d'améliorer la résolution et d'accroître la flexibilité lors de l'accès à différents types de matériaux d'échantillonnage. JSM 6335F est équipé d'une colonne électronique à balayage à ultra-vide à pression variable qui offre une plage de pression variable de 0,1 à 0,09 Pa. Ce système de navigation offre des propriétés de navigation exceptionnelles avec la précision de 0,05 um à une distance objective de 10 mm. Le SEM dispose en outre d'une capacité de déflexion automatisée avec un contrôle de processeur de signal numérique (DSP), permettant à l'utilisateur de traiter des scénarios complexes et difficiles d'analyse d'échantillons. Ce SEM est conçu avec plusieurs caractéristiques d'analyse, y compris l'analyse élémentaire et chimique, l'imagerie et la cartographie des rayons X, l'imagerie électronique secondaire induite par les électrons et les photons, et la spectroscopie dispersive de l'énergie des rayons X (XEDS). En outre, ce SEM est équipé d'une gamme complète d'outils d'analyse, y compris l'imagerie par diffraction électronique par rétrodiffusion (BSED), l'imagerie par rétrodiffusion haute résolution (HRBE), l'imagerie par figures polaires (PFI) pour l'analyse de texture et l'imagerie par rétrodiffusion basse tension (LVBE). JEOL JSM 6335F est compatible avec une variété de porte-échantillons pour des échantillons allant des structures en couches minces aux échantillons biologiques séchés, ainsi que divers échantillons de géométries et de tailles différentes. De plus, le SEM comprend un détecteur de champ lumineux (BF), un détecteur de champ sombre (DF) et un détecteur de longue distance de travail (LWD) qui peut représenter un échantillon à une distance allant jusqu'à 4 millimètres. JSM 6335F SEM dispose d'une chambre de travail de 300 × 300 mm et peut manipuler des échantillons jusqu'à 180 mm de diamètre. JEOL JSM 6335F est un SEM fiable et efficace conçu pour fournir aux utilisateurs des images précises et détaillées. La conception globale du 6335F offre une flexibilité et des capacités d'imagerie supérieures qui en font un SEM idéal pour une variété d'applications, de la recherche aux environnements industriels.