Occasion JEOL JSM 6335F #293670418 à vendre en France

JEOL JSM 6335F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) avec une excellente vitesse et résolution. Par rapport aux SEM traditionnels, JSM 6335F offre un champ de vision accru et des capacités d'imagerie améliorées. L'équipement est équipé d'un filament de tungstène et de potentiels de tension jusqu'à 30 kV, permettant une imagerie haute résolution et la capacité de détecter les détails fins. Il est également doté d'un monochromateur haute résolution et d'un système d'imagerie à longue distance en segments limitrophes qui réduit considérablement le bruit. En outre, l'unité est équipée d'un canon à émission de champ qui réduit encore le bruit et augmente la résolution. La machine utilise un logiciel de manipulation à quatre axes qui permet un contrôle intuitif et précis des fonctions d'imagerie et de navigation de l'outil. Cela comprend l'inclinaison fine, la compensation de l'inclinaison zéro, la navigation en traversée, le réglage du grossissement et diverses autres fonctions. JEOL JSM 6335F dispose d'une large gamme d'accessoires en plus des fonctions susmentionnées. Il s'agit notamment de détecteurs à haute sensibilité (détecteurs faciaux, secondaires et rétrodiffuseurs), d'un actif à vide faible, d'un modèle SEM environnemental, d'une fixation au microscope optique, d'une caméra numérique (y compris les capacités infrarouge et ultraviolet), d'un équipement de mesure de la résistance et d'un système de quantification des grains. L'unité est capable d'effectuer des images stéréo ainsi que de mesurer des échantillons jusqu'à 200 microns. En outre, il peut analyser plusieurs éléments simultanément et fournit une imagerie 3D détaillée des échantillons à diverses fins. Enfin, JSM 6335F offre des logiciels étendus et des capacités d'analyse de données, y compris la reconstruction d'imagerie avancée, la cartographie cadastrale, l'enlèvement histologique de surface, la quantification automatique des grains, ainsi que la navigation tactile automatisée. En conclusion, JEOL JSM 6335F est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir des performances d'imagerie améliorées et une résolution supérieure. En outre, il est équipé d'une grande variété d'accessoires et de fonctionnalités logicielles avancées pour une gamme d'applications.