Occasion JEOL JSM 6335F #293671409 à vendre en France

JEOL JSM 6335F
ID: 293671409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6335F est un microscope électronique à balayage de bureau (SEM) qui combine une conception compacte et des capacités d'imagerie avancées. Il utilise une colonne d'émission de champ thermionique (TFEG), qui fournit une haute résolution d'images de haute qualité. Ce SEM peut être utilisé pour une variété de matériaux, allant des échantillons isolants aux échantillons conducteurs. Il utilise un étage d'entrée 5 canaux avec deux cathodes et un équipement autofocus double axe pour atteindre un haut niveau de performance. Ce SEM dispose également d'un détecteur d'électrons haute résolution, d'une alimentation électrique à faible bruit et d'une chambre de pression remplie d'azote pour améliorer la qualité de l'image. Le processeur de signal numérique du SEM permet une meilleure formation d'image et des algorithmes de réduction du bruit qui réduisent l'ambiguïté entre le signal et le bruit aléatoire et fournit une image claire. JEOL 6335F dispose également d'un chargeur numérique qui permet de visualiser les images d'aperçu avec un flux de travail automatisé. Le logiciel de l'appareil comprend une variété de fonctions de traitement d'image telles que la rotation automatique de l'image, le réglage du contraste, l'imagerie miroir, la mesure des dimensions et la sélection des lignes. Il dispose également d'une fonction de mesure automatisée qui permet aux opérateurs d'obtenir des informations sur la taille et la forme des échantillons. JEOL 6335F SEM dispose d'un système de détection à faible contrainte qui offre un haut niveau d'optimisation de l'image. Cette unité permet également le réglage automatique du temps de séjour et de l'énergie pour donner à l'utilisateur des résultats cohérents. La machine dispose d'une large gamme d'accessoires tels que des porte-échantillons, des étapes et des objectifs qui sont compatibles avec une variété de buts d'application, le rendant adapté à une gamme de buts de recherche. Le SEM est également conçu avec une interface conviviale, permettant l'acquisition facile d'informations. Dans l'ensemble, JSM 6335F est un microscope électronique à balayage fiable et précis qui offre une excellente qualité d'image et une large gamme de capacités. Ses performances fiables, sa conception compacte et ses fonctionnalités conviviales en font un choix idéal pour une variété d'applications de recherche matérielle.
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