Occasion JEOL JSM 6335F #293744719 à vendre en France

JEOL JSM 6335F est un système d'imagerie électronique à balayage analytique à haute résolution qui permet une analyse détaillée des surfaces et des structures internes d'un large éventail de matériaux organiques et inorganiques. Ce dispositif benchtop SEM est équipé d'une grande chambre, fournissant au technicien un espace de travail suffisant pour la manipulation et l'observation des échantillons. Sa source de rayons X EverHigh offre une plus grande stabilité et fiabilité que les modèles précédents. JSM 6335F est livré de série avec un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille et un détecteur de rétrodiffusion haut de gamme qui est capable de détecter les particules sur un grand angle. Le détecteur d'électrons secondaire permet à l'utilisateur de saisir en détail les caractéristiques topographiques de surface de l'échantillon, tandis que le détecteur de rétrodiffusion permet l'analyse de la composition de l'échantillon et l'imagerie en coupe transversale de structures noyées. Le SEM dispose également d'un microscope électronique à balayage/transmission à balayage (STEM) à faisceau ionique concentré (FIB), permettant l'imagerie à échelle fine de spécimens biologiques, y compris de tissus mous. Ce système de balayage FIB a une conception spéciale de colonne de 3e génération, ce qui augmente ses performances en termes de précision, de résolution et de grossissement. Le spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie intégré permet d'analyser la composition élémentaire de l'échantillon, ce qui permet de caractériser au maximum le maquillage du matériau. JEOL JSM 6335F est conçu pour une capture d'image rapide et fiable ; avec la possibilité de capturer des images 2D en moins de 5 secondes et des images 3D prises en une seule fois en moins de 10 minutes. L'appareil est extrêmement convivial, avec un panneau de contrôle tactile, une interface graphique intuitive et des fonctionnalités utiles telles que la reconnaissance de l'écriture manuelle. De plus, des outils puissants tels que la fonction Autostage permettent d'effectuer le positionnement et le traitement des échantillons le plus rapidement possible sans intervention de l'utilisateur. Enfin, la bibliothèque d'applications disponibles pour JSM 6335F rend le dispositif adapté à un large éventail d'applications, de la métallurgie et de la céramique à la chimie et à la recherche en semi-conducteur et nanotechnologie. Son large éventail de capacités en font un choix idéal pour l'imagerie et l'analyse de spécimens micro- et nanométriques.