Occasion JEOL JSM 6335F #293744948 à vendre en France

JEOL JSM 6335F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu à des fins variées d'imagerie analytique et de spectroscopie dans diverses disciplines, telles que la science des matériaux, l'analyse environnementale, la criminalistique, l'analyse de semi-conducteurs et d'appareils électroniques, et les applications biologiques. JSM 6335F dispose d'un canon à émission de champ contenant un filament de tungstène qui peut fonctionner à trois tensions d'accélération différentes : 0,2 kV, 1,0 kV et 15,0 kV. L'optique électronique de grande puissance fournit une excellente résolution et un contraste élevé à une énergie de faisceau très faible. De plus, les contrôleurs de courant de lentilles électriques permettent des manipulations et des corrections de distorsion très précises des trajectoires du faisceau. La surface maximale de balayage du 6335F est de 30 x 30 mm. JEOL JSM 6335F offre une variété de modes d'imagerie, tels que l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI) et l'imagerie spectroscopique à rayons X (XSI) utilisant un détecteur à haute vitesse à rayons X dispersant l'énergie (EDX). L'équipement de spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS) permet aux utilisateurs d'identifier des éléments, d'analyser rapidement la distribution spatiale des éléments et même de collecter un large éventail de spectres dans de grandes zones. Ce SEM analytique peut également être équipé de divers accessoires, selon l'application de l'utilisateur. Un système de cathodoluminescence au laser Argus est disponible pour la géo-référence et la couture d'images de grande surface et peut être utilisé pour l'imagerie de matériaux non conducteurs. Une unité de décharge lumineuse est capable de générer jusqu'à 1,5 mA de courants et convient pour la mesure du poids moléculaire et de la force motrice dynamique de la réaction de surface sur les métaux et les semi-conducteurs. Ce SEM est conçu pour répondre aux exigences de la technologie des émissions sur le terrain. La faible tension du faisceau aide à réduire les effets de charge des échantillons ainsi qu'à minimiser la génération d'électrons secondaires. De longues distances de travail, ainsi que la suppression thermique des électrons, permettent même l'imagerie de matériaux non conducteurs. Une machine de détection à distorsion réduite permet de tenir compte du déplacement de l'étage pour assurer une vue d'ensemble fiable et non faussée de l'échantillon. JSM 6335F est un SEM puissant, offrant aux utilisateurs des images haute résolution des surfaces d'échantillons et des distributions élémentaires. Cet instrument est un dispositif inestimable pour analyser les matériaux aux niveaux micro et nano-échelle.