Occasion JEOL JSM 6340F #145143 à vendre en France

JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) offrant d'excellentes capacités d'imagerie. Cet équipement est conçu pour diverses applications dans les domaines de la science des matériaux, des semi-conducteurs, de la nanotechnologie et de la recherche en biologie. JEOL JSM-6340F est doté d'une conception de colonne compacte entièrement automatisée et est équipé d'une gamme de détecteurs, dont un système EDX (spectromètre à rayons X dispersant l'énergie), un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs (ESB) et un détecteur d'électrons secondaires (SE). Ce SEM est également équipé d'une unité d'imagerie électronique secondaire à faible vide (LV) en tête de ligne. Le contrôle de numérisation entièrement automatisé offre une acquisition de données rapide et fiable, permettant l'imagerie haute résolution d'une variété de types d'échantillons sur une large gamme de grossissements. Le détecteur SE haute performance augmente le contraste et la netteté des images capturées à des grossissements élevés. Une caractéristique unique de JSM 6340 F est son excellente machine d'imagerie électronique secondaire à faible vide qui offre une large gamme de grossissements de 5x à 300.000x, fournissant aux chercheurs un outil puissant pour analyser des échantillons à plusieurs échelles. L'outil offre une variété d'étapes de spécimen, y compris une fonction d'initialisation d'échantillons LV de grand diamètre et de faible fond et une étape de traduction automatisée. JSM 6340F offre une large gamme de fonctionnalités pour simplifier et accélérer l'acquisition et l'analyse des données. Le contrôle automatique de la vitesse de balayage assure une préparation et une imagerie précises des échantillons. Le détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) aide les chercheurs à déterminer la composition et les caractéristiques de l'échantillon. Le spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDX) permet aux utilisateurs d'analyser rapidement des éléments d'échantillons inconnus et d'effectuer une analyse élémentaire. En outre, l'atout est équipé d'un logiciel d'imagerie multisectorielle, permettant aux utilisateurs de manipuler sans effort des images capturées par JEOL JSM 6340 F. Ce logiciel avancé offre une gamme de fonctionnalités telles que l'auto-échelle, le codage des couleurs et le zoom, permettant aux chercheurs d'analyser plus efficacement leurs données. En résumé, le microscope électronique à balayage JSM-6340 F est l'outil idéal pour un large éventail d'applications de la science des matériaux, des semi-conducteurs, de la nanotechnologie et de la recherche biologique. L'instrument hautement automatisé offre d'excellentes capacités d'imagerie pour une gamme de grossissements allant de 5x à 300000x. En outre, le modèle est équipé d'une large gamme de détecteurs, y compris un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), un appareil de spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDX) et un système d'imagerie secondaire à bas vide (LV). Pour faciliter une analyse plus poussée des données, l'instrument dispose également d'un logiciel d'imagerie multi-échelle avancé.