Occasion JEOL JSM 6340F #293601758 à vendre en France

JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une conception haute performance de haute qualité pour un large éventail de besoins d'imagerie et d'analyse d'échantillons. JEOL JSM-6340F a une grande profondeur de champ, permettant l'observation d'objets à différentes profondeurs. L'échantillon est éclairé par un faisceau focalisé d'électrons qui est ensuite balayé à travers l'échantillon, permettant la création d'une image 3D. Le JSM 6340 F dispose d'un système d'autofocus, d'un système d'acquisition d'images et d'un canon à électrons haute performance pour une large gamme de capacités analytiques, y compris l'analyse des matériaux et la cartographie élémentaire. Le canon à électrons est capable de fonctionner jusqu'à 10kV et peut être utilisé pour la cartographie élémentaire, l'imagerie et l'analyse des sources. Un système avancé de traitement d'image et de traitement de signal numérique permet l'analyse d'images avec un détail et une résolution crus. JEOL JSM 6340 F est conçu pour la flexibilité, permettant l'utilisation d'une variété de détecteurs et de détecteurs avec différentes ouvertures. Cela permet de capturer le signal, les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés, ou les trois, ce qui donne des images complémentaires. Le champ d'application a également une opération sans cryogène qui garantit une performance optimale, tout en restant économe en énergie. JEOL JSM-6340 F offre des fonctionnalités logicielles sophistiquées et une interface utilisateur intuitive, permettant une configuration et un fonctionnement faciles. Le logiciel comprend une bibliothèque embarquée de programmes opérationnels et la capacité d'affiner les paramètres pour obtenir des résultats optimaux. Un large éventail de logiciels sont disponibles pour l'automatisation et l'analyse des données, tels que les outils d'annotation programmables, les fonctions de résolution automatique et les algorithmes automatisés de détection et de mesure des pics. JSM-6340F offre des capacités d'imagerie fiables, performantes et polyvalentes pour un large éventail de tailles d'échantillons, permettant des résultats fiables et reproductibles. Son interface utilisateur intuitive permet une configuration et un fonctionnement faciles, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche sur les matériaux, l'analyse industrielle et de nombreuses autres applications.