Occasion JEOL JSM 6340F #9003281 à vendre en France

ID: 9003281
SEM Specifications:   a. Performance SEI Resolution : 1.2 nm guaranteed (Acc. V. = 15kV) 2.5 nm guaranteed (Acc. V. = 1kV) Magnification : x 25 (WD 25 mm) to x 650,000 Accelerating Voltage : 0.5 to 2.9 kV (10 V steps) 2.9 to 30 kV (100 V steps) Probe Current : 2 x 10-9 to 10-13 A Image Mode : SEI, LEI   b. Electron Optical System Electron Gun : High-resolution Conical Anode Field Emission Gun with Cold Cathode Alignment : Mechanical and Electromagnetic Deflection Condenser lens (C.L.) : Electromagnetic 2-stage zoom lens Objective lens (O.L.) : Superconical CF (corrected field) lens O.L. Apertures : Variable, 4-step click-stop type   c. Specimen Stage Type : Fully Eccentric Goniometer Movement :  X = 50mm, Y = 70mm, Z = 23mm Tilt = -5* to +45* Rotation = 360* endless (motor driven) Motorized movement for all 5 axes   d. Specimen Chamber Max Specimen size : 100mm or 4inch diameter Specimen Exchange: Airlock type (100mm dia. or less) EDS Detector : WD = 15 mm Take-off Angle = 20*   e. Display System Display Tubes Observation: One, 17-inch color CRT Recording : One, 5-inch ultra high resolution short-persistence CRT Scanning Modes : PIC (Full, ½ & ¼ frame), Bright-up, line Profile, Spot Display Modes : NORM, WFM, D-MAG, YZ Mod, FREZ, DUAL Display, Different magnification Images Auto Functions : Auto Focus, Auto Astigmatism Correction, Auto Contrast & Brightness Image Memory : 1280 x 1024 x 8 bits.
JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage qui fournit des capacités d'imagerie polyvalentes pour un large éventail d'applications. Sa conception avancée promet des performances supérieures en termes de résolution, de débit et de fiabilité. Il est équipé d'une chambre à pression variable, qui assure un environnement sûr pour les échantillons en fournissant une pression d'air stable. Cela élimine le besoin de gel de cryogène dans de nombreuses applications. JEOL JSM-6340F dispose d'un canon à électrons à émission de champ, qui combine un angle de divergence de faisceau faible avec une grande luminosité. Cela le rend idéal pour l'imagerie haute résolution. Le dispositif est également équipé d'un filtre à énergie avancée, qui assure un contrôle précis de l'énergie du faisceau d'électrons. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster le type d'imagerie à ses besoins spécifiques. JSM 6340 F se vante d'un impressionnant 200kV le voltage accélérant, ayant pour résultat une résolution reflétante améliorée de jusqu'à 3nm. Cela en fait un choix idéal pour les applications d'imagerie de haut niveau, y compris les sciences médicales et matérielles. Sa capacité de grossissement élevée pouvant atteindre 250 000 x permet d'identifier même les plus petites caractéristiques. JSM 6340F dispose également d'un système de numérisation SEC sans recontamination pulsée. Cela crée un environnement d'observation stable et minimise la contamination des échantillons. Cela le rend adapté à des applications nécessitant un environnement propre et exempt de contamination, comme dans le domaine des nanotechnologies. Sa conception facile à utiliser et son interface utilisateur intuitive offrent un fonctionnement facile et pratique, même pour l'utilisateur inexpérimenté. De plus, le dispositif peut être actionné dans l'un ou l'autre des deux modes de fonctionnement : manuel ou automatique. Cela permet à l'utilisateur de choisir le meilleur mode de fonctionnement pour son application spécifique. En conclusion, JSM-6340F est un microscope électronique à balayage avancé qui fournit d'excellentes capacités d'imagerie. Ses performances sont améliorées par des caractéristiques telles qu'une chambre à pression variable, un filtre à énergie avancée, un canon à émission de champ et un système de balayage SEC sans recontamination pulsée. Son fonctionnement facile et son interface utilisateur intuitive garantissent une expérience utilisateur agréable. En tant que tel, c'est un choix idéal pour les applications d'imagerie haute résolution dans les domaines des sciences médicales et des matériaux.
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