Occasion JEOL JSM 6340F #9076781 à vendre en France

JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Il est équipé d'une colonne nano-focalisée de faisceau d'électrons et d'une grande variété de caractéristiques pour l'imagerie, l'analyse et la caractérisation des matériaux. Le SEM est conçu pour produire des images claires de la surface d'un échantillon, quelle que soit sa taille ou sa complexité. JEOL JSM-6340F est équipé d'un canon à électrons LaB6 qui produit des électrons à haute énergie et à faible divergence. Cela permet de focaliser exactement le faisceau d'électrons pour créer des images nettes de même les plus petites caractéristiques. L'instrument est également livré avec une technologie d'amortissement avancée qui réduit la dérive et les vibrations pendant l'imagerie, assurant la précision et éliminant les artefacts. Le SEM dispose d'un scintillateur et d'une lentille de germanium à haute sensibilité qui permettent l'imagerie à des grossissements et des résolutions plus élevés. Cela permet une meilleure détection de la composition et des informations structurelles. Le microscope dispose également d'un équipement d'indexation pour un fonctionnement plus rapide et plus facile. Le système d'alignement automatisé toujours allumé garantit un alignement fiable et répétable du faisceau. Cela élimine la nécessité d'ajuster manuellement le faisceau, ce qui entraîne un gain de temps important et une résolution potentielle améliorée. Les autres caractéristiques du JSM 6340 F comprennent une unité de balayage rapide d'échantillons, une machine de commande automatisée et un processeur de signal numérique intégré. L'outil de contrôle automatisé maintient la température et l'humidité exactes de la chambre du microscope, créant ainsi un environnement stable pour le fonctionnement. Le processeur numérique intégré permet également un traitement efficace des données et une résolution d'image. JEOL JSM 6340 F est le microscope électronique à balayage idéal pour les applications nécessitant la plus grande précision et résolution. Un large éventail d'options et de fonctions rendent ce microscope de pointe adapté à presque toutes les applications d'imagerie SEM.