Occasion JEOL JSM 6340F #9276338 à vendre en France

JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour l'imagerie haute résolution très détaillée pour un large spectre d'applications. JEOL JSM-6340F est un pistolet à émission de champ corrigé aberration SEM, qui offre un dispositif semi-conducteur inégalé et analyse de circuit, analyse de défaillance, et examen morphologique. Il est soutenu par un équipement d'imagerie nanométrique ultra-stable et fiable pour une imagerie de haute qualité. JSM 6340 F a une large gamme de capacités d'imagerie, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie électronique secondaire (SE) et l'imagerie par spectroscopie de composition. Il peut détecter même les plus petits changements d'échantillons cryogéniques avec des capacités de détection EDS intégrées. Sa source d'électrons à haut champ offre une stabilité et des résolutions ultra élevées jusqu'à 0,8 nanomètres. La colonne optique avancée utilise un système astigmatique à deux lentilles qui offre un environnement d'imagerie extrêmement stable avec une unité optique avancée. Il dispose d'un déflecteur angulaire qui permet de corriger l'angle pendant le fonctionnement, ce qui en fait un outil idéal pour une résolution d'imagerie plus élevée. JSM 6340F dispose d'une variété de fonctionnalités avancées qui en font un choix idéal pour l'imagerie avancée. Il est équipé d'une chambre à vide élevé qui a été conçue pour permettre l'imagerie d'échantillons dans un environnement à vide ultra-élevé. La chambre peut également être actionnée à des vides inférieurs, ce qui la rend apte à examiner des échantillons nécessitant des conditions de faible dépression. Il offre également une variété de capacités et de fonctions de contrôle avancées. Il comprend un panneau de commande pour régler le courant d'émission de champ et la tension d'accélération. Il a également la capacité de contrôler les paramètres de focalisation et de stigmatisation avec un joystick intégré. Il dispose également d'une machine d'inversion de déviation automatique qui permet une imagerie rapide avec une taille et un grossissement d'objet constants. En outre, JEOL JSM 6340 F offre des capacités d'imagerie avancées grâce à son logiciel. Il dispose d'une version améliorée du logiciel d'imagerie TEM qui fournit aux utilisateurs les outils dont ils ont besoin pour effectuer des tâches d'imagerie TEM corrigées de l'aberration. Il comprend également un puissant logiciel de reconstruction et d'analyse d'images 3D qui permet aux utilisateurs de combiner des informations provenant de diverses images pour créer des images tridimensionnelles d'échantillons. JSM-6340F est un outil d'imagerie avancé qui peut aider les utilisateurs à créer des images très détaillées et à haute résolution pour un large éventail d'applications. Il est capable de détecter les plus petits changements d'échantillons cryogéniques et offre une variété de capacités de contrôle et d'imagerie avancées. Avec son atout optique avancé, il peut fournir aux utilisateurs une imagerie de haute qualité et il est soutenu par un modèle d'imagerie à l'échelle nanométrique ultra-stable et fiable.