Occasion JEOL JSM 6340F #9364860 à vendre en France

JEOL JSM 6340F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour produire des images à haute résolution de petites structures morphologiquement complexes. Il est capable de détecter des caractéristiques aussi petites que 0,1 nanomètres, permettant la visualisation de petites caractéristiques structurelles sans nécessité d'agrandissement supplémentaire. Il dispose d'une source d'électrons d'émission de champ qui peut générer des faisceaux d'électrons avec moins de 5 milliampères de courant, permettant des images avec une haute résolution et la stabilité de l'image. En outre, l'équipement sous vide numérique du SEM fournit un vide clair dans la colonne, ce qui donne une plate-forme d'imagerie très stable. Afin d'acquérir des images de qualité sans artefacts, JEOL JSM-6340F propose un détecteur d'électrons secondaire avancé qui dispose d'un bloqueur de lumière et d'un filtre d'énergie dans la colonne. Le bloqueur aide à réduire la distorsion d'image due aux sources de lumière externes, tandis que le filtre d'énergie dans la colonne peut être réglé pour augmenter le contraste en permettant un réglage optimal de l'énergie électronique. Il en résulte des images plus contrastées, notamment pour identifier de petites caractéristiques. Par ailleurs, la chambre de prélèvement du JSM 6340 F supporte divers modes de visualisation dont les modes de pression variable (VP), de dépression (LV) et de microscopie électronique à transmission à balayage (STEM). Le mode VP supprime les effets de charge sur l'objet, tandis que le mode LV facilite l'imagerie d'échantillons non conducteurs. Comme pour STEM, l'objectif corrigé de l'aberration du microscope permet de quantifier la composition de l'échantillon. JEOL JSM 6340 F est également bien équipé avec un système d'imagerie en colonne. Cette unité comprend un déflecteur en colonne et des bobines de balayage pour le positionnement et la focalisation des échantillons, ainsi qu'un étage de balayage de précision, qui permet un montage stable des échantillons et un balayage reproductible. En outre, une machine intégrée à faible dérive d'isolation des vibrations fournit un support supplémentaire pour minimiser la distorsion de la coupe transversale et le basculement des images d'échantillons causées par les secousses de caméra. JEOL JSM-6340 F est livré avec un alignement précis et un mode de balayage automatisé pour le réglage fin en mode balayage. Les systèmes d'alignement alignent l'échantillon avec précision et rapidité pour une résolution de balayage optimale. Il y a aussi l'outil intégré auto-focus qui aide à maintenir une qualité et une résolution d'image cohérentes. En conclusion, JSM-6340 F est un microscope électronique à balayage avancé, capable de produire des images à haute résolution avec faible dérive et faible bruit. Il est équipé de diverses caractéristiques et accessoires qui augmentent sa fonctionnalité, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie de structures morphologiquement complexes.