Occasion JEOL JSM 6360 #293704584 à vendre en France

JEOL JSM 6360 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie et une mesure à haute résolution pour diverses applications. L'équipement utilise un canon à électrons pour scanner l'échantillon, produisant une image interactive qui peut être tournée, agrandie et manipulée selon les désirs de l'utilisateur. Le canon à électrons est capable de produire un faisceau de 5 nanoampères d'un diamètre de 3 à 4,5nm, ce qui permet une imagerie précise à des grossissements élevés. Une chambre d'échantillonnage de 15mm est utilisée pour loger l'échantillon, et le système dispose en outre de capacités de pression variable et de dépression pour assurer des conditions de fonctionnement optimales. JSM 6360 présente également une gamme d'analyses différentes, y compris la composition élémentaire des rayons X, l'EDS (Energy-dispersive X-ray Spectroscopy) et l'imagerie électronique secondaire (SEI). Ces analyses peuvent être effectuées à l'aide de divers logiciels, dont le logiciel d'analyse des rayons X Genesis d'EDAX, la suite d'analyse X-Flash 5060 de Bruker et le logiciel Viewon de JEOL. L'unité utilise également un détecteur d'émission en champ froid à haute sensibilité pour produire les images les plus détaillées et les plus vives. Ce détecteur capture des images sous différents angles, ce qui permet une flexibilité maximale dans les capacités d'imagerie. En outre, la machine est également équipée d'un joystick facile à utiliser, qui peut être utilisé pour focaliser le faisceau pour améliorer davantage les images. En outre, JEOL JSM 6360 est conçu pour une utilisation facile, avec une multitude de fonctionnalités conviviales, y compris un porte-échantillon amovible, des claviers à accès direct pour le contrôle du faisceau, et du matériel et des logiciels intégrés pour effectuer des analyses supplémentaires. Enfin, le JSM 6360 est très fiable en raison de sa construction supérieure et de ses pièces bien conçues. Ses fonctions d'auto-focus et d'alignement garantissent que les images sont exactes et correctement alignées pour une précision maximale. En résumé, ce SEM est un excellent choix pour l'imagerie haute résolution et la mesure de différents échantillons.