Occasion JEOL JSM 6360LA #9410470 à vendre en France

JEOL JSM 6360LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution d'une large gamme de matériaux de surface. JSM 6360LA utilise une colonne électronique-optique pour tirer des électrons sur un échantillon, qui sont réfléchis et détectés par un détecteur de signal. Cette technique permet au microscope de produire des images d'échantillons avec un degré de détail extrêmement élevé, limité uniquement par la résolution du détecteur de signal. La résolution de JEOL JSM 6360LA est élevée pour sa classe, ce qui permet d'obtenir des images aussi riches en détails. Ceci est dû à son système unique de détection de signal, qui comprend une colonne optique électronique à faible bruit et à forte transmission qui produit des faisceaux d'électrons très différenciés. Le modèle de base a une résolution minimale de 3.2nm, bien que la plus haute résolution de JSM 6360LA puisse générer une résolution allant jusqu'à 0.7nm. JEOL JSM 6360LA est un outil polyvalent pour l'imagerie des surfaces. Il est capable de produire un large éventail d'images, telles que des images de surface à fort grossissement, des images d'analyse élémentaire (utilisant un système dispersif d'énergie) et des images d'électrons secondaires. Il peut également générer des images de topographie de surface, révélant la structure de surface d'un échantillon ainsi que sa composition élémentaire. De plus, le 6360LA est en mesure d'imiter des échantillons avec des courants d'échantillons assez faibles - souvent dans la gamme des dixièmes d'un nano amp - éliminant le risque de charge qui est un problème courant dans de nombreux SEM. Une autre caractéristique de JSM 6360LA est la capacité de contrôler et de surveiller le faisceau d'électrons pendant l'imagerie, ce qui peut être fait manuellement, ou via des programmes informatiques. Cela permet un contrôle précis des conditions d'imagerie et peut aider à atteindre la résolution la plus élevée possible. En outre, le 6360LA peut être utilisé pour l'observation in situ sous vide et est compatible avec un large éventail de porte-échantillons pour la réalisation d'une variété de techniques analytiques. En fin de compte, JEOL JSM 6360LA est un puissant microscope à balayage pour les surfaces d'imagerie avec la plus haute résolution possible. Son système unique de détection de signaux ainsi que la capacité de surveiller et de contrôler le faisceau d'électrons en font un outil très polyvalent.