Occasion JEOL JSM 6360LV #9373179 à vendre en France

JEOL JSM 6300LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument à haute résolution conçu pour l'imagerie, l'analyse élémentaire et la microanalyse aux rayons X. Ce SEM polyvalent permet un fonctionnement à vide faible et élevé et dispose d'une capacité de basse tension unique de 1 à 15 keV, ce qui facilite l'observation des échantillons avec des dommages minimes dans les modes d'imagerie des électrons secondaires et rétrodiffusés (ESB). Les détails de l'instrument comprennent un angle de convergence spot de 5 nm, une source d'électrons d'émission de champ de 25 kV, un petit diamètre spot de 20 W jusqu'à 0,3 μ m, une source de rayons X de 5W K β, un étage X/Y/Z de trois axes, une puissance de crête de 2,5 à 5 kW et un fonctionnement de 15 keV. Le JSM 6300LV fournit l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et la microanalyse des rayons X d'une grande variété d'échantillons. La résolution théorique est de 0,8 nm pour les électrons secondaires à un grossissement global de 1000 fois, permettant l'imagerie sous microns de différents échantillons. Ce SEM comprend également un système de détection pour l'imagerie simultanée simultanée et la spectroscopie, qui promet une acquisition rapide des données. Le détecteur d'électrons permet un support d'imagerie supérieur et inférieur et comprend un détecteur d'ESB de 5 keV pour l'imagerie d'échantillons non conducteurs. Un autre détecteur d'électrons monté dans l'axe optique permet d'améliorer l'imagerie électronique rétrodiffusée en augmentant la sensibilité du détecteur de 5 keV à 15 keV. Le SEM est également capable d'imiter des échantillons à très faible courant, y compris des solides, des liquides et même des échantillons gazeux. La source d'émission sur le terrain assure également des performances constantes et constantes. Le système d'imagerie avancé comprend des capacités de surveillance multiple. Ceci permet aux opérateurs de basculer entre de multiples configurations d'imagerie, ce qui permet d'étudier une plus large gamme d'échantillons. JEOL JSM 6300LV dispose d'une grande surface de travail disponible pour une large gamme de tailles d'échantillons. Il offre également une forme de chambre réglable, le rendant apte à être utilisé dans une variété d'installations et de tâches de travail. En outre, l'instrument est équipé d'un puissant logiciel de navigation et de traitement d'images, permettant des analyses complexes et la création de rapports. Le JSM 6300LV est un outil précieux à utiliser dans divers domaines de recherche tels que la recherche sur les semi-conducteurs, les sciences de la vie, les sciences de l'environnement, les géosciences et les sciences des matériaux, pour n'en citer que quelques-uns. Avec son large éventail de caractéristiques et ses faibles tensions de fonctionnement, le JSM 6300LV est un instrument idéal pour l'imagerie, l'analyse élémentaire et la microanalyse aux rayons X.