Occasion JEOL JSM 6380 #9086904 à vendre en France

JEOL JSM 6380 est un microscope électronique à balayage qui fonctionne à l'aide d'un canon électronique à incandescence en tungstène et dont la résolution spatiale est de 0,25 nm. Il intègre un porte-échantillon à double inclinaison avec jusqu'à 5 degrés de liberté et une large gamme de détections. Il est capable d'une imagerie bidimensionnelle, d'une analyse des rayons X dispersifs en énergie et en longueur d'onde, ainsi que d'une imagerie spécifique aux éléments. L'e-pistolet à filament de tungstène haute performance utilisé par JSM 6380 augmente la résolution spatiale à 0,25 nm pour des performances maximales. Ce système a également un courant de faisceau de 200-300nA et des distances de travail de 600mm à 1500mm. La tension d'accélération réglable peut également être réglée à 30kV, ce qui permet une large gamme d'applications, y compris l'imagerie basse tension. Le porte-échantillon innovant à double inclinaison est équipé d'un maximum de 5 degrés de liberté, y compris un système pratique de chargement et de déchargement des échantillons. Cela permet à l'utilisateur de déplacer l'échantillon dans la position optimale par rapport au faisceau d'électrons, améliorant le contraste et la résolution de l'image. Le porte-échantillon à double inclinaison permet également une plus grande flexibilité et sécurité dans le positionnement des échantillons pour les applications TEM ou STEM. Ce support est également compatible avec une gamme d'échantillons, et on peut utiliser des étapes de recuit ou de modification à froid. JEOL JSM 6380 est capable d'effectuer une large gamme de détections, y compris la cartographie analytique, les analyses de rayons X dispersifs en énergie et en longueur d'onde, et l'imagerie spécifique aux éléments. La cartographie analytique peut être utilisée pour quantifier la composition élémentaire de l'échantillon, tandis que les analyses de rayons X dispersives d'énergie peuvent être utilisées pour identifier les éléments présents dans la zone d'analyse. Les analyses des rayons X dispersives en longueur d'onde peuvent être utilisées pour déterminer les propriétés chimiques de l'échantillon, tandis que l'imagerie spécifique à un élément aide à déchiffrer la structure atomique et la composition de l'échantillon. Dans l'ensemble, JSM 6380 est un microscope électronique à balayage avancé qui offre une large gamme de caractéristiques. Son e-pistolet à filament de tungstène haute performance fournit une résolution de 0,25 nm, tandis que son porte-échantillon à double inclinaison permet jusqu'à 5 degrés de liberté. Il est également capable d'effectuer toute une série de détections, ainsi que l'imagerie spécifique aux éléments, ce qui en fait un excellent choix pour la recherche sur les matériaux.