Occasion JEOL JSM 6380A #9267245 à vendre en France

JEOL JSM 6380A
ID: 9267245
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6380A est un microscope électronique à balayage à pression variable avancé (VP-SEM) conçu pour observer une grande variété d'échantillons dans un large éventail d'applications. Cet équipement est basé sur une conception monocouche, et il utilise JEOL monocouche monocouche système de condenseur dans la lentille pour une stabilité et une efficacité maximales. Cette plate-forme est conçue pour être utilisée dans des applications de recherche, notamment dans les domaines de l'environnement, de la biologie, des matériaux, des semi-conducteurs et de l'analyse de surface. JSM 6380A offre une grande distance de travail de 450 mm pour des capacités d'imagerie optimisées. La chambre d'échantillons standard interne de JEOL JSM 6380A est équipée d'un détecteur haute résolution, et l'échantillon peut être directement observé sans avoir besoin de fixations externes. Le détecteur peut détecter des électrons secondaires (SE), des électrons rétrodiffusés (ESB) et des informations de champ lumineux (BF). En outre, il existe une unité de traitement du signal entièrement numérique (DSP) pour améliorer la résolution de l'image. JSM 6380A offre un certain nombre de caractéristiques de haute performance, y compris une source d'électrons à émission de champ, une lentille magnétique très efficace, et un environnement de pression variable pour une meilleure imagerie des échantillons biologiques et conducteurs d'ions. La source d'électrons à émission de champ fournit une excellente résolution d'image et des exigences de vide, tandis que la lentille magnétique assure un champ lumineux et uniformément éclairé. De plus, la machine à pression variable permet d'observer des échantillons non conducteurs tels que des échantillons biologiques, qui réagissent mal dans des environnements à vide élevé. Les capacités analytiques de JEOL JSM 6380A sont encore améliorées par l'utilisation de l'imagerie à pression variable (IPV). VPI est la combinaison d'un condenseur dans la lentille, d'un régulateur de pression variable et de deux détecteurs d'électrons : un SE et un ESB. L'IPV permet l'imagerie de surfaces clivées afin de déterminer la relation entre les limites du grain et les défauts, permettant une analyse détaillée des échantillons qui sont inaccessibles dans un environnement à vide élevé. En outre, JSM 6380A est livré avec des logiciels avancés d'automatisation et d'imagerie, permettant une analyse rapide et précise des échantillons et le traitement des données. Ce logiciel peut être configuré avec des paramètres définis par l'utilisateur pour une utilisation rapide et facile. En outre, l'outil est compatible avec JEOL Insight In + SEM Auto-détection, permettant la détection et l'analyse automatisées des particules métalliques et des couches minces, ainsi que l'annotation automatique des régions d'intérêt. JEOL JSM 6380A est un outil puissant conçu pour développer le potentiel de recherche de la microscopie électronique. Avec son instrumentation avancée et son logiciel convivial, JSM 6380A est idéal pour une utilisation dans des laboratoires de recherche et industriels, permettant l'imagerie et l'analyse d'une grande variété d'échantillons provenant d'une variété de domaines d'application.
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