Occasion JEOL JSM 6380LA #293671420 à vendre en France

JEOL JSM 6380LA Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de haute performance conçu pour l'imagerie polyvalente, ainsi que l'EDXA (Energy Dispersive X-ray Analysis) et WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) analyse élémentaire. Il offre une imagerie haute résolution et un fonctionnement facile pour une variété d'applications d'échantillons. Le fonctionnement à pression variable de l'équipement permet d'étudier une large gamme d'échantillons sans avoir besoin d'un système de pompage auxiliaire tout en donnant des images de contraste élevé. Le SEM dispose d'une unité d'imagerie numérique de 6,4 pouces utilisant un grossissement variable et la rotation de l'image. Il offre une plage de grossissement de 11x jusqu'à 500.000x avec une profondeur de champ améliorée et un contraste d'image supérieur. Le canon à émission de champ (FEG) de 8 kV (kilovolt) offre des capacités de luminosité et de résolution considérablement accrues par rapport aux canons à tungstène classiques tout en offrant une gamme dynamique plus large d'images d'électrons secondaires pour l'analyse d'échantillons non conducteurs. Il est également équipé d'un écran détecteur de lumière qui permet une imagerie rapide et facile des échantillons avec une conductivité de surface très faible, voire nulle. Les systèmes EDXA et WDS font partie intégrante de l'instrument et permettent une détermination rapide et précise de la composition chimique des échantillons. L'incorporation à la fois du SDD quadrilatère (Silicon Drift Detector) et de l'EDXA incliné (Energy Dispersive X-ray Analysis) permet une analyse plus précise et plus fiable. Le WDS fournit une analyse élémentaire de C à U (Cobalt à Uranium) pour les éléments légers. L'analyse multi-éléments jusqu'à 36 éléments avec une fenêtre séparée peut être réalisée avec la machine SEM. JSM 6380LA offre un outil d'imagerie complet avec des capacités puissantes et est construit pour une grande précision et fiabilité. Il offre un large éventail d'applications pour les utilisateurs effectuant une imagerie haute résolution ou une analyse élémentaire. Le SEM est idéal pour développer les activités de recherche.