Occasion JEOL JSM 6390 #293661432 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 293661432
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6390 est un microscope électronique à balayage haute performance conçu pour l'imagerie et les applications analytiques. Il utilise une combinaison d'électrons secondaires à haute résolution (SE) et de détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour fournir des images de contraste élevé des échantillons. Le JSM 6390 offre également une imagerie SE basse tension et un détecteur d'électrons rétrodiffusés haute résolution qui peut atteindre une résolution maximale jusqu'à 5 nanomètres. Son fonctionnement automatisé et contrôlé par ordinateur permet une imagerie et une analyse précises et répétables d'un large éventail de types d'échantillons. JEOL JSM 6390 utilise un canon à électrons monochromatique UHR avancé qui fournit un rapport signal/bruit supérieur et offre une large gamme de tensions d'accélération, entre 1 kV et 30 kV. Cela permet à l'utilisateur de varier le degré de pénétration et de résolution de l'échantillon, sans sacrifier la résolution. Le détecteur d'électrons secondaire haute performance offre une gamme de modes d'imagerie, y compris l'imagerie SE standard, différentielle et basse tension. Le détecteur optionnel haute résolution de l'ESB permet à la fois une imagerie de contraste élevé et une analyse quantitative. Le JSM 6390 dispose également d'un système de focalisation automatique à grande vitesse qui utilise la pression de vapeur pour le positionnement précis de l'échantillon et du faisceau. Ce système se combine avec une installation automatisée d'échange d'échantillons, un étage xy motorisé intégré et un système informatisé de contrôle au microscope électronique pour améliorer la précision, la répétabilité et la productivité. Pour faciliter le fonctionnement automatisé, JEOL JSM 6390 dispose d'une gamme de logiciels d'automatisation et d'analyse. Cela comprend les logiciels de télécommande, les outils de traitement d'images en temps réel et les logiciels d'analyse qui peuvent être utilisés pour effectuer l'analyse de défauts, l'analyse de particules, l'analyse d'images et la manipulation de données. En outre, d'autres matériels spécialisés, tels que les systèmes de nettoyage automatisé et les pistolets à ions et à gaz, peuvent être intégrés pour un contrôle plus poussé et la collecte de données. Dans l'ensemble, JSM 6390 est un microscope électronique à balayage haute performance qui est capable de fournir d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse. Il est adapté à un large éventail d'applications, y compris l'analyse des défaillances, la métallographie et l'imagerie nanométrique. La source d'électrons avancée, l'échange automatisé d'échantillons et une gamme de logiciels et de paquets matériels font de JEOL JSM 6390 un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse détaillées.
Il n'y a pas encore de critiques