Occasion JEOL JSM 6390LA #293609260 à vendre en France

JEOL JSM 6390LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu spécifiquement pour les applications d'analyse des défaillances des semi-conducteurs et de contrôle des processus. Il s'agit d'un microscope électronique à balayage à pression variable (VP-SEM) offrant des capacités d'imagerie supérieures aux SEM traditionnels. La colonne électronique VP-SEM permet une large gamme de conditions de fonctionnement, ce qui se traduit par une profondeur de sondage plus élevée et des images plus propres sans charge d'échantillon. L'équipement de base est équipé d'un canon FEG froid et d'une source d'électrons à émission de champ, offrant d'excellentes propriétés de cohérence et de stabilité du faisceau. Le canon est conçu avec un système optique à double objectif qui améliore la luminosité et la résolution des images obtenues. Une colonne électronique d'auto-réglage permet un fonctionnement simple et des techniques définies par l'utilisateur pour des résultats optimaux. Avec un détecteur SE haute résolution basse dépression intégré dans la colonne, JSM 6390LA peut atteindre des niveaux de résolution améliorés de 1,3 nm et une limite de détection allant jusqu'à 10 keV. L'unité d'étalonnage à résolution intégrée fournit un moyen fiable et précis d'analyser les échantillons jusqu'au niveau du nanomètre. De plus, le microscope comprend un détecteur d'électrons rétrodiffuseur avancé (ESB) et un détecteur d'électrons secondaire (SE) pour améliorer encore les capacités d'imagerie. En termes de fonctionnement, JEOL JSM 6390LA offre une interface utilisateur facile à utiliser et un contrôle automatique ou pratique sur toutes les fonctions. Le SEM peut être actionné manuellement, ou allumé et éteint en utilisant le bouton d'alimentation intégré. D'autres fonctionnalités utiles comprennent un navigateur, un moniteur vidéo et un réticule éclairé pour guider l'utilisateur pendant l'alignement et l'étalonnage. Pour une sécurité accrue, JSM 6390LA offre également une variété de mesures de protection des utilisateurs telles que les interférences anti-électromagnétiques, le blindage électromagnétique et les revêtements antistatiques. En outre, la machine comprend à la fois des capacités internes et externes d'imagerie d'effacement de faisceau qui évitent les dommages aux échantillons de l'irradiation électronique. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6390LA est un microscope électronique à balayage de classe mondiale qui offre des capacités exceptionnelles de qualité d'image, de résolution et de détection pour l'analyse des défaillances des semi-conducteurs et le contrôle des processus. Avec des contrôles faciles à utiliser, d'excellentes fonctions d'optimisation et des mesures de sécurité avancées, JSM 6390LA est un choix idéal pour ceux qui cherchent à tirer parti des nombreux avantages de la technologie SEM.