Occasion JEOL JSM 6390LA #293732138 à vendre en France

JEOL JSM 6390LA Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie et d'analyse haute performance capable de fournir des images détaillées et des données provenant de divers matériaux d'échantillonnage. Cet instrument puissant peut capturer des images à des grossissements allant de 6x à 250000x, ce qui permet de caractériser avec précision un large éventail de matériaux, dont des métaux, des polymères, des céramiques, des minéraux, des composites et des spécimens biologiques. JSM 6390LA dispose d'un détecteur d'électrons secondaire à lentille, d'un détecteur à quatre quadrants entièrement intégré et d'un détecteur 3D à champ lumineux. Ces caractéristiques, associées à ses capacités d'imagerie haute résolution, permettent d'obtenir des images claires et précises de matériaux à divers agrandissements. De plus, la conception et la construction uniques de JEOL JSM 6390LA offre une excellente stabilité et permet de maintenir l'axe optique pendant l'observation. Les capacités de spectroscopie avancée de JSM 6390LA sont idéales pour la recherche dans les domaines des sciences interdisciplinaires, de la science des matériaux et de la nanotechnologie. Il offre des options d'analyse chimique élémentaire telles que la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD), ainsi que des capacités de traitement d'image avancées. Cela permet aux chercheurs d'effectuer des recherches avancées sur une variété de matériaux et de structures. JEOL JSM 6390LA offre également une variété de modes d'application spéciaux pour optimiser l'analyse. Il s'agit notamment de l'imagerie de contraste d'interférence différentielle (DI acq) pour la visualisation de très petits échantillons biologiques et minéraux, du mode de microscopie électronique tunnel (TEM) pour l'imagerie à haute résolution d'échantillons ultra-minces, de l'imagerie rétrodiffusée SEM (BSI) pour la cartographie de la composition des échantillons et du mode STEM pour l'analyse ultra haute résolution. JSM 6390LA est également équipé d'un système de navigation qui permet une recherche automatisée de la surface de l'échantillon. Cela le rend idéal pour des applications telles que l'analyse d'échec, où l'emplacement exact d'un défaut doit être identifié rapidement et avec précision. En outre, son logiciel facilite la capture et la couture automatisées d'images, permettant un champ de vision accru lors de la numérisation de grands objets. En résumé, JEOL JSM 6390LA fournit de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse pour un large éventail de matériaux et d'applications. Ses commandes intuitives, ses détecteurs avancés et ses modes d'application étendus en font un choix idéal pour les scientifiques comme pour les ingénieurs, permettant une caractérisation rapide et précise des échantillons avec une résolution inégalée.