Occasion JEOL JSM 6390LA #9205545 à vendre en France

JEOL JSM 6390LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une solution d'imagerie haute résolution pour une variété de matériaux et d'échantillons. L'instrument intègre plusieurs fonctionnalités avancées pour permettre aux chercheurs d'analyser des échantillons à l'échelle nanométrique avec une excellente précision et fiabilité. Le microscope est équipé d'une source de canon à émission de champ (FEG), qui produit un courant de faisceau élevé pour un rapport signal sur bruit amélioré. De plus, la source est équipée d'un monochromateur pour réduire l'aberration chromatique lors de l'imagerie. De plus, le SEM est équipé de revêtements antireflet qui réduisent les contributions du bruit de fond des électrons diffusés. Le microscope est conçu pour permettre une grande variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire haute résolution, l'imagerie électronique rétrodiffusée et un détecteur EDX couleur innovant pour l'analyse élémentaire. La conception de l'instrument permet la commutation entre les modes d'imagerie presque sans réglage manuel, permettant une transition sans effort entre les techniques d'imagerie. De plus, la conception du SEM permet d'utiliser plusieurs porte-échantillons dans une seule expérience, par exemple un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur EDX et un détecteur d'électrons rétrodiffusés peuvent tous être utilisés simultanément. De plus, l'instrument dispose d'un système de pompage différentiel à vide élevé intégré qui permet de déplacer les échantillons à l'intérieur de la chambre à vide avec un minimum de perturbations. L'instrument est également équipé d'un étage d'échantillonnage motorisé qui permet le balayage automatisé et l'imagerie de grands échantillons. L'étage motorisé est capable de positionner l'échantillon avec une précision allant jusqu'à 0,03 um et peut être utilisé pour acquérir une gamme d'images haute résolution en quelques minutes. Dans l'ensemble, JSM 6390LA est un microscope électronique à balayage avancé avec de nombreuses fonctionnalités innovantes qui sont conçues pour fournir une solution d'imagerie fiable et précise pour une variété de matériaux et d'études. Le système est très efficace, permettant une imagerie rapide sur plusieurs modes avec un réglage manuel minimal. La polyvalence du microscope en fait un outil idéal pour la recherche nécessitant une solution d'imagerie haute résolution, fiable et avancée.