Occasion JEOL JSM 6390LA #9402534 à vendre en France

JEOL JSM 6390LA est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) largement utilisé dans la communauté scientifique. Ses capacités garantissent une flexibilité maximale dans la recherche et le fonctionnement, ce qui le rend idéal pour diverses applications, y compris la caractérisation des matériaux, l'analyse des défaillances et la nanotechnologie. JSM 6390LA est un SEM d'émission de champ, c'est-à-dire qu'il utilise l'émission de champ thermique des électrons et une interface ultra-basse dépression pour améliorer la résolution et atteindre des performances plus élevées. Son module de canon est constitué d'un canon à émission de champ froid, d'un détecteur à lentille et d'un détecteur d'électrons secondaire à lentille, avec la possibilité pour d'autres détecteurs selon l'application. Le canon à électrons dispose d'une large gamme d'alimentations et de sources de rayons X, offrant la flexibilité d'utiliser une variété de faisceaux d'électrons et de rayons X. Ce microscope électronique à balayage est équipé d'un ensemble de systèmes analytiques, y compris les systèmes EDS, EELS et CL. Selon l'application, les utilisateurs peuvent sélectionner l'un des trois systèmes d'étage automatique : manuel, auto-chargement/déchargement, ou auto-empilement/dépilage. Ces caractéristiques permettent une utilisation rapide et efficace des échantillons. JEOL JSM 6390LA offre un haut niveau de clarté et de résolution des images, obtenant des images au niveau du nanomètre. Une capacité de zoom motorisé permet l'agrandissement jusqu'à 5200x, et son dispositif semi-conducteur haute vitesse avec 512 x 512 pixels permet des temps d'échantillonnage plus rapides. JSM 6390LA est un SEM efficace et puissant adapté à un large éventail de tâches. Sa conception modulaire et ses systèmes analytiques avancés en font un outil précieux dans de nombreux domaines de recherche, permettant aux utilisateurs d'atteindre leurs objectifs de recherche.