Occasion JEOL JSM 6390LV #293637307 à vendre en France

JEOL JSM 6390LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil de recherche puissant et polyvalent pour l'étude des structures et des surfaces microscopiques. Ce SEM haute résolution a une résolution spatiale fine de 1 nm à une tension d'accélération de 1 kV, et une résolution latérale de 0,5 nm à 15 kV. Il a également un grand champ de vision (FOV) jusqu'à 30 mm, et la capacité d'image sur une surface d'échantillon jusqu'à 1000 cm2. JSM 6390LV utilise un faisceau d'électrons pour générer des images de la morphologie transversale d'un échantillon. Ce faisceau est formé à travers le système de lentilles, qui est composé de deux lentilles de condenseur et d'une lentille d'objectif. Les lentilles du condenseur focalisent le faisceau sur l'échantillon, et l'objectif est utilisé pour recueillir les électrons rétrodiffusés ou secondaires générés par le faisceau d'électrons primaire. Ces électrons sont alors détectés et convertis en signaux numériques. JEOL JSM 6390LV peut fonctionner avec une plage de pression de la chambre à vide de 2 x 10-4 à 5 x 10-7 Torr. Cette plage de pression permet une imagerie haute résolution et haute sensibilité. La fonction d'acquisition d'images à grande vitesse de ce microscope permet l'acquisition d'images multiples en moins d'une seconde. Ce microscope peut être utilisé pour une grande variété d'applications, y compris la mesure de la rugosité et de la topographie de surface, l'étude des propriétés des matériaux et l'analyse de la composition et de la distribution élémentaires. Il peut également être utilisé pour analyser les limites du grain, la porosité et les défauts d'un échantillon. Les capacités d'imagerie haute résolution de JSM 6390LV en font un outil idéal pour la recherche dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et des sciences biologiques. Avec son interface utilisateur intuitive et ses capacités d'imagerie avancées, il peut être utilisé dans des environnements industriels et universitaires. Avec les bons accessoires, JEOL JSM 6390LV peut même être utilisé dans des applications à grande vitesse telles que l'analyse des pannes et le balayage des défauts.