Occasion JEOL JSM 6390LV #293647290 à vendre en France
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ID: 293647290
Style Vintage: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
GATAN Alto 2100 Cryo chamber
Resolution: 3.0µm at 30kV and 15µm at 1kV
Accelerating voltage range: 0.5kV-30kV
Magnification range: 5x - 300,00x
Imaging modes:
Secondary Electron (SE)
Back Scattered Electron (BSE)
Specimen size: 150mm x 45mm
Specimen stage: Eucentric stage axis motorization
Automated filament heating and alignment
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une gamme d'applications difficiles allant de la caractérisation des matériaux à l'imagerie d'une variété d'échantillons. C'est la dernière génération de notre série LV, combinant des innovations révolutionnaires avec des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. JSM 6390LV utilise un système d'imagerie haute résolution augmenté d'une gamme de fonctionnalités, permettant aux utilisateurs d'explorer des échantillons avec une superbe clarté. De plus, son étage Digital Peltier mis à jour permet aux utilisateurs de scanner des échantillons à des températures allant de -50ºC à + 500ºC ; permettre un examen plus approfondi des échantillons présentant des caractéristiques nanométriques complexes, même dans les conditions les plus extrêmes. Pour la résolution et la précision de crête, JEOL JSM 6390LV utilise une tension de faisceau variable de 0.5-30kV et une tension d'accélération de 0.5-30kV. Cela permet une plage efficace de grossissement de x1000 à x 400.000, donnant aux utilisateurs un examen approfondi de la structure de leur échantillon. Cela permet également de minimiser de façon impressionnante la dérive, non affectée par des facteurs environnementaux tels que les vibrations, afin d'assurer des résultats fiables et reproductibles. JSM 6390LV comprend également deux détecteurs parallèles ; un détecteur d'électrons secondaire (SED) et un détecteur d'électrons rétrodiffuseur (BSD). Grâce à ces détecteurs exclusifs, les utilisateurs peuvent obtenir divers niveaux d'information sur leur échantillon. L'extraction angulaire permet d'améliorer les détails de surface à travers le SED, tandis que le BSD donne une meilleure compréhension de la composition élémentaire de l'échantillon en utilisant une gamme de modes d'analyse. Ce modèle dispose également d'un photomicroscope intégré, permettant aux utilisateurs de passer facilement entre le SEM et le photomicroscope sans perturber leur échantillon. Cet outil polyvalent est un atout inestimable, car il permet à l'utilisateur de mener de multiples expériences avec une seule configuration, économisant du temps et des ressources précieuses. JEOL JSM 6390LV est l'instrument idéal pour tout laboratoire effectuant des expériences d'analyse de surface. Ses capacités polyvalentes, ses fonctionnalités avancées et son contrôle convivial en font un incontournable pour toute inspection de surface, analyse de défauts ou laboratoire de recherche sur la caractérisation des matériaux.
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