Occasion JEOL JSM 6390LV #293810359 à vendre en France

JEOL JSM 6390LV est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'analyse des matériaux et l'analyse des défaillances. Il est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau d'électrons à focalisation fine, qui est utilisé pour scanner un échantillon et produire une image. Le microscope a une variété de fonctionnalités qui permettent à l'utilisateur d'obtenir des images haute résolution, en plus de fournir une gamme d'options pour la préparation et l'analyse de spécimens. JSM 6390LV offre un vaste champ de vision et a une capacité de travail de 10nm à 30µm. La FEG a une fonction de compensation de courbure de champ, permettant une résolution d'image améliorée. La tension d'accélération peut être ajustée de 0.9kV à 30kV, fournissant une gamme d'applications utiles. Le microscope a également un rapport signal/bruit amélioré, assurant un excellent contraste et des images de phase. En outre, JEOL JSM 6390LV est équipé d'un filtre d'énergie, permettant la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS) et la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). JSM 6390LV est livré avec une gamme de porte-échantillons, y compris un porte-échantillons en tungstène, recouvert de carbone, un porte-échantillons en creux et un porte-échantillons en verre. Ce dernier comporte notamment un mouvement d'échantillon motorisé à 6 axes, qui permet à l'utilisateur de positionner avec précision l'échantillon dans le faisceau d'électrons. Le SEM est également équipé d'une chambre de préparation et d'observation sous vide, permettant l'imagerie électronique secondaire in situ. Pour faciliter la tâche de l'utilisateur, l'étape de modification, les porte-échantillons et la chambre d'observation peuvent tous être contrôlés à partir d'un écran tactile multilingue et convivial. De plus, toutes les données du microscope, y compris les images et les informations stockées, peuvent être consultées et visualisées à distance sur un réseau, ce qui permet une collaboration entre les utilisateurs. En résumé, JEOL JSM 6390LV est un SEM hautement capable qui offre une imagerie haute résolution avec une large gamme d'applications. Il fournit également un certain nombre de fonctionnalités qui améliorent la commodité de l'utilisateur, comme une interface tactile télécommandée, ce qui en fait un outil idéal pour l'analyse des matériaux et des défaillances.