Occasion JEOL JSM 6390LV #293814673 à vendre en France
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JEOL JSM 6390LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'imagerie avancé conçu pour des applications de microscopie à haute résolution dans les domaines de la recherche et de l'industrie. Avec un fonctionnement à pression variable et un grand champ de vision, cet équipement robuste et fiable offre une combinaison inégalée de performances et de valeur. Le 6390LV est capable de produire des images avec un grossissement jusqu'à 300 000 fois, ce qui en fait un outil idéal pour l'analyse et l'imagerie nano-niveaux. JSM 6390LV dispose d'un design avancé qui permet aux utilisateurs d'accéder à différents lieux et modes selon la tâche. Son mode basse dépression (VL) permet une inspection à une pression environnementale de 10 à 500 mbar, ce qui le rend bien adapté à l'analyse de matériaux qui, autrement, nécessiteraient un vide plus élevé. D'autres caractéristiques comprennent une grande profondeur de champ pour l'imagerie 3D, un système de vide à 5 chambres pour des temps de traitement améliorés, et la capture d'images numériques par le CCD, les caméras photographiques et vidéo. Cette unité intègre également une machine de stigmatisation automatique à grande vitesse, permettant le réglage fin de la taille de la tache du faisceau d'électrons. Ceci garantit une résolution d'image optimale pour l'imagerie haute et faible grossissement. En outre, JEOL JSM 6390LV est également équipé d'un logiciel de traitement d'image numérique (DIP), permettant aux utilisateurs de créer des images numériques puissantes à partir de leurs échantillons de données. JSM 6390LV offre aux utilisateurs la combinaison idéale de performance, d'efficacité et de valeur. Conception robuste, fonctionnalités d'imagerie avancées et logiciel de contrôle intuitif en font un outil puissant pour l'imagerie ultra haute résolution. Qu'il soit utilisé dans la recherche ou l'industrie, JEOL JSM 6390LV fournit aux utilisateurs les capacités d'imagerie dont ils ont besoin pour mener leur analyse au niveau suivant.
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