Occasion JEOL JSM 6390LV #9193088 à vendre en France
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Vendu
ID: 9193088
Scanning electron microscope
Specifications:
Resolution:
HV Mode: 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV)
LV Mode: 4.0 nm (30kV)
Magnification:
8x to 300,000x (at 11kV or higher)
5x to 300,000x (at 10kV or lower)
User operation recipe:
Optics
Specimen stage
Image mode
LV Pressure
Standard recipe
Image mode:
Secondary electron image
Composition
Topography
Shadowed
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun:
Fully automated
Manual override
Auto functions:
Focus
Brightness
Contrast
Stigmator
Specimen stage:
Large eucentric type
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5mm to 48mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360°
Pumping system:
Fully automated
DP: 1
RP: 1 or 2
Switching vacuum mode: Less than 1 minute
LV Pressure: 1 to 270 Pa
JED-2300 EDS: Built in
Principal options:
Backscattered electron detector
Secondary electron detector for low vacuum
Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS)
Specimen exchange airlock chamber
Chamber scope
Operation knobs
Specimen cooling unit
LaB6 electron gun
Report creation software (SMile View)
Operation console (750mm wide, 900mm wide, 1100mm wide)
Computer & peripherals:
HP Z230, CORE E3-1225v3 3.2GHz Processor with 4GB RAM
500GB SATA 1st HDD
16XDVD+/-RW SATA
USB Keyboard & optical mouse
ADAPTEC PCI SCSI 2940AU Host controller
Upgrade: Windows7 OS
19" Flat panel LCD monitor
EDAX EDS Not included
Power:
Single-phase, 100V AC, 50/60Hz
3.0kVA
Voltage regulation within ±10% (voltage drop at 3.0 kVA within 3%).
JEOL JSM 6390LV est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour l'imagerie d'une large gamme de matériaux et de largeurs d'échantillons. Il combine une grande colonne verticale avec un canon unique de classe mondiale (FEG) pour l'imagerie haute résolution des échantillons jusqu'à une résolution de 0,4 nanomètre. Le microscope contient une variété de caractéristiques pour aider les chercheurs à tirer le meilleur parti de leurs études. Voici quelques-unes de ces caractéristiques : modes d'imagerie tels que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), SEI (imagerie électronique secondaire), SEVI (imagerie électronique secondaire à intensité variable), EDX (spectroscopie électronique à rayons X dispersifs en énergie), WDS (spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde), et EBSBatd Le microscope est équipé d'un grand manipulateur à 3 axes qui permet aux utilisateurs de manipuler rapidement et précisément l'échantillon sous imagerie SEM. Il est également équipé d'un manipulateur robotique automatique XYZ 4 axes qui permet aux chercheurs d'échanger automatiquement des échantillons et d'ajuster leurs positions d'imagerie. JSM 6390LV est également équipé de diverses options environnementales telles que cryo-SEM à faible vide, cryo-SEM pour les basses températures et SEM à haute température jusqu'à 1000 ° C De plus, l'imagerie par faisceau d'ions diffracté (IBI) présente une résolution spatiale élevée pouvant atteindre 2 nm. Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs d'avoir une gamme complète de capacités d'imagerie haute résolution pour différents besoins d'application. Enfin, le microscope comprend le logiciel Pure ChromView leader de l'industrie que l'utilisateur peut contrôler. Ce logiciel permet un fonctionnement pratique et confortable du microscope et permet aux utilisateurs d'acquérir des images haute résolution et vidéo en quelques minutes. En conclusion, JEOL JSM 6390LV fournit aux chercheurs un système SEM fiable et puissant qui offre une large gamme de capacités d'imagerie haute résolution ainsi qu'une gamme de fonctionnalités automatisées. Ce microscope peut être utilisé dans diverses études, allant des sciences des matériaux et des nanotechnologies au contrôle des procédés industriels et aux applications biomédicales.
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