Occasion JEOL JSM 6390LV #9193088 à vendre en France

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ID: 9193088
Scanning electron microscope Specifications: Resolution: HV Mode: 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV) LV Mode: 4.0 nm (30kV) Magnification: 8x to 300,000x (at 11kV or higher) 5x to 300,000x (at 10kV or lower) User operation recipe: Optics Specimen stage Image mode LV Pressure Standard recipe Image mode: Secondary electron image Composition Topography Shadowed Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV Filament: Factory pre-centered filament Electron gun: Fully automated Manual override Auto functions: Focus Brightness Contrast Stigmator Specimen stage: Large eucentric type X: 80mm Y: 40mm Z: 5mm to 48mm Tilt: -10° to +90° Rotation: 360° Pumping system: Fully automated DP: 1 RP: 1 or 2 Switching vacuum mode: Less than 1 minute LV Pressure: 1 to 270 Pa JED-2300 EDS: Built in Principal options: Backscattered electron detector Secondary electron detector for low vacuum Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS) Specimen exchange airlock chamber Chamber scope Operation knobs Specimen cooling unit LaB6 electron gun Report creation software (SMile View) Operation console (750mm wide, 900mm wide, 1100mm wide) Computer & peripherals: HP Z230, CORE E3-1225v3 3.2GHz Processor with 4GB RAM 500GB SATA 1st HDD 16XDVD+/-RW SATA USB Keyboard & optical mouse ADAPTEC PCI SCSI 2940AU Host controller Upgrade: Windows7 OS 19" Flat panel LCD monitor EDAX EDS Not included Power: Single-phase, 100V AC, 50/60Hz 3.0kVA Voltage regulation within ±10% (voltage drop at 3.0 kVA within 3%).
JEOL JSM 6390LV est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour l'imagerie d'une large gamme de matériaux et de largeurs d'échantillons. Il combine une grande colonne verticale avec un canon unique de classe mondiale (FEG) pour l'imagerie haute résolution des échantillons jusqu'à une résolution de 0,4 nanomètre. Le microscope contient une variété de caractéristiques pour aider les chercheurs à tirer le meilleur parti de leurs études. Voici quelques-unes de ces caractéristiques : modes d'imagerie tels que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), SEI (imagerie électronique secondaire), SEVI (imagerie électronique secondaire à intensité variable), EDX (spectroscopie électronique à rayons X dispersifs en énergie), WDS (spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde), et EBSBatd Le microscope est équipé d'un grand manipulateur à 3 axes qui permet aux utilisateurs de manipuler rapidement et précisément l'échantillon sous imagerie SEM. Il est également équipé d'un manipulateur robotique automatique XYZ 4 axes qui permet aux chercheurs d'échanger automatiquement des échantillons et d'ajuster leurs positions d'imagerie. JSM 6390LV est également équipé de diverses options environnementales telles que cryo-SEM à faible vide, cryo-SEM pour les basses températures et SEM à haute température jusqu'à 1000 ° C De plus, l'imagerie par faisceau d'ions diffracté (IBI) présente une résolution spatiale élevée pouvant atteindre 2 nm. Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs d'avoir une gamme complète de capacités d'imagerie haute résolution pour différents besoins d'application. Enfin, le microscope comprend le logiciel Pure ChromView leader de l'industrie que l'utilisateur peut contrôler. Ce logiciel permet un fonctionnement pratique et confortable du microscope et permet aux utilisateurs d'acquérir des images haute résolution et vidéo en quelques minutes. En conclusion, JEOL JSM 6390LV fournit aux chercheurs un système SEM fiable et puissant qui offre une large gamme de capacités d'imagerie haute résolution ainsi qu'une gamme de fonctionnalités automatisées. Ce microscope peut être utilisé dans diverses études, allant des sciences des matériaux et des nanotechnologies au contrôle des procédés industriels et aux applications biomédicales.
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