Occasion JEOL JSM 6390LV #9402759 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6390LV (SEM) est un instrument avancé et fiable conçu pour fournir d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse pour une multitude d'applications dans une variété d'industries. Doté d'une technologie formidable et d'une flexibilité de mouvement unique, il permet l'imagerie haute résolution et la caractérisation des matériaux pour un large éventail d'applications dans les sciences des matériaux et de l'ingénierie, la biologie et les sciences de la vie, les sciences de la terre, les semi-conducteurs et la microélectronique, et d'autres domaines connexes. JSM 6390LV dispose d'une puissante tension d'accélération de 1,0-30,0 kV et d'un courant maximal de 10,0 µA. En outre, il est équipé d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) et d'un système de détection directe qui garantit une surface de balayage superbe et la résolution. Cet instrument de pointe est également construit avec une commande d'inclinaison verticale intuitive et ergonomique, permettant commodément de régler la tension d'accélération et le courant par petits incréments, ainsi que la manipulation de l'échantillon sur deux axes. En outre, son système d'imagerie numérique haute résolution et son option de navigation automatisée offrent à l'utilisateur un moyen facile et productif d'obtenir des mesures fiables. En outre, le logiciel intégré offre un accès à une gamme de fonctionnalités, y compris l'imagerie 3D automatisée à ultra haute résolution. JEOL JSM 6390LV est équipé de technologies supplémentaires pour augmenter les performances de l'analyse des échantillons : L'étage peltier standard permet un chauffage automatisé, un refroidissement et une aération des échantillons, tandis qu'un filtre d'énergie est capable d'éliminer les électrons de faible énergie de l'échantillon. Il offre un excellent contraste naturel et l'imagerie rétrodiffusée, ainsi que la capacité de capturer la topographie de surface extrêmement peu profonde. JSM 6390LV est également emballé avec des logiciels puissants pour améliorer les capacités d'acquisition et d'analyse de données. Son interface graphique avancée (interface utilisateur graphique) permet même aux utilisateurs novices de comprendre et d'exploiter rapidement le microscope. Une analyse de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) est également disponible, offrant une cartographie cristallographique rapide et facile d'une surface de spécimen. JEOL JSM 6390LV est un microscope électronique à balayage puissant et fiable conçu pour répondre aux exigences de la recherche et de l'expérimentation actuelles et futures. Avec sa technologie de pointe, ses commandes de fonctionnement ergonomiques et une large gamme d'accessoires optionnels, il est bien adapté pour une utilisation dans de nombreuses applications industrielles et de recherche.