Occasion JEOL JSM 6400 #293753986 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'observation d'échantillons au niveau atomique et moléculaire. Il a un niveau de résolution d'image incroyablement élevé et son étage motorisé à 5 axes permet une manipulation précise et automatisée des échantillons. En termes de construction physique, le JSM 6400 dispose d'une colonne longue portée avec une base qui abrite l'électronique primaire, y compris les systèmes d'alimentation et de contrôle de faisceau. Un cadre métallique exigeant supporte un détecteur EDS intégré, une chambre d'échantillonnage et une optique électronique à balayage. La chambre peut être augmentée de composants mécaniques supplémentaires tels qu'un porte-cryo, et les ports d'entrée multiples permettent diverses méthodes de prélèvement d'échantillons. L'optique électronique à l'intérieur de la chambre est très ajustable aux besoins de l'utilisateur. Un correcteur électro-aimant est la caractéristique principale de l'optique et ses réglages permettent des corrections d'image telles que l'astigmatisme et l'aberration, tout en contrôlant la résolution en courant des électrons. Le grossissement est réglable jusqu'à 100.000x à une résolution de 1.0nm. Le faisceau d'électrons est modulé par l'ouverture variable et les pièces polaires, qui fournissent une focalisation variable et un meilleur contrôle d'image. En termes d'acquisition d'image, JEOL JSM 6400 propose une gamme de modes. Les modes les plus courants sont l'électron secondaire, la réflexion du second ordre, l'électron rétrodiffuseur et l'imagerie 3D, chacun offrant ses propres avantages. Notamment, les modes électron secondaire et électron rétrodiffuseur conviennent à la création d'images de surface 3D vives. L'acquisition d'images 3D se fait par des lentilles d'électrons co-axiales, ce qui crée une distinction claire entre les données de premier plan et de fond. JSM 6400 offre également une gamme d'outils d'analyse chimique, permettant l'analyse élémentaire des échantillons. Il s'agit notamment de sous-systèmes d'analyse des gaz en laboratoire et de diverses techniques de cartographie des rayons X. Le système de spectroscopie dispersive électronique (EDS) comprend un cristal Si [111] et un multiplicateur de canaux, qui travaillent ensemble pour fournir des compositions de surface incroyablement détaillées et des cartes élémentaires. Pour permettre des opérations supplémentaires, JEOL JSM 6400 propose plusieurs tâches automatisées. Ceux-ci comprennent la préparation des échantillons, l'imagerie des échantillons et la déclaration automatisée. Toutes ces tâches peuvent être accomplies grâce à l'interface utilisateur intuitive et facile à utiliser. Dans l'ensemble, le JSM 6400 est un SEM puissant qui offre un niveau de résolution impressionnant, une optique électronique hautement capitalisée et une large gamme de tâches automatisées, ce qui en fait un outil idéal pour des applications de recherche avancées.