Occasion JEOL JSM 6400 #293763923 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6400 (SEM) est un outil d'analyse polyvalent qui permet aux chercheurs d'étudier la nanostructure, la chimie et les propriétés électroniques des matériaux. Cet instrument polyvalent haut de gamme est conçu pour produire des images et des données à haute résolution avec simplicité et précision. Le JSM 6400 est équipé d'un canon à électrons doté de quatre canons, dont un canon à émission de champ à haut rendement, à dimension contrôlée, un canon à cathode froide et deux canons à assistance thermique. Ce système est conçu pour fournir les capacités d'imagerie haute résolution et la large gamme dynamique nécessaire pour caractériser avec précision les détails de structure Nanoscale d'une variété de matériaux. Pour améliorer encore les capacités de l'unité d'analyse EDX pour JEOL JSM 6400, l'option X-MAXN silicon drift detector (SDD) est disponible. Ce détecteur fournit une haute résolution énergétique, ainsi qu'un meilleur rapport signal sur bruit pour détecter de petites différences entre les éléments lumineux dans les échantillons minces. Le SDD offre un avantage par rapport à d'autres détecteurs de rayons X dispersifs en énergie (EDX), puisqu'il offre un taux de comptage accru et un temps de comptage plus court. En plus des capacités d'imagerie fournies par la machine à canon à électrons et le détecteur EDX, JSM 6400 dispose également d'un détecteur d'imagerie infrarouge hors axe (IR). Ce détecteur permet aux chercheurs d'imiter et d'analyser des échantillons contenant de petites quantités de matière organique, comme des biomolécules, ainsi que d'autres caractéristiques qui peuvent ne pas être visibles par un SEM standard. Pour une flexibilité et une fonctionnalité accrues, le JEOL JSM 6400 est équipé d'une large gamme de fonctions pilotées par ordinateur. L'instrument est capable de se connecter avec une variété d'accessoires et de fonctionnalités automatisées, comme une étape automatisée, des acquisitions d'images automatisées et un automate multi-échantillons. Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs d'accumuler de plus grands ensembles de données avec plus de précision et de rapidité. Dans l'ensemble, JSM 6400 est un SEM très polyvalent et avancé pour une large gamme d'applications d'analyse de matériaux. L'outil de canon à électrons haute performance, le détecteur EDX, le détecteur d'imagerie IR et diverses fonctions automatisées contrôlées par ordinateur permettent aux chercheurs d'effectuer une caractérisation précise et à haute résolution de divers types d'échantillons.