Occasion JEOL JSM 6400 #9079566 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage à technologie de pointe, conçu pour fournir un maximum de clarté et de précision en imagerie microscopique. Il est efficace pour trouver et examiner la topographie de surface, la composition, et même fournir des informations tridimensionnelles. Il offre une résolution et une profondeur de champ inégalées dans la gamme de 1nm en analyse élémentaire et paquet, ainsi que pour l'analyse non destructive des dispositifs semi-conducteurs. En outre, il peut détecter un large éventail de matériaux à une vitesse et une précision élevées. JSM 6400 a plusieurs fonctionnalités qui permettent des capacités d'imagerie supérieures et la précision. Sa combinaison avancée d'un détecteur d'électrons secondaire et de trois détecteurs auxiliaires lui fournit des fonctions d'analyse de haute précision. Sa grande taille de chambre et sa plage de grossissement accrue offrent une profondeur de focalisation et de résolution inégalée. Sa chambre est capable de résister à différentes températures pour permettre l'étude de matériaux dans des conditions thermodynamiques spécifiques. JEOL JSM 6400 est adapté à divers domaines d'application tels que la science des matériaux, la science de la vie, la fabrication de semi-conducteurs, la métallurgie et l'analyse de couches minces. Sa flexibilité est également adaptée à l'imagerie STEM et SAM. Grâce à ses capacités avancées, JSM 6400 est capable de fournir des données sur la topographie de surface, la composition, le collage chimique ainsi que l'analyse tridimensionnelle. En conclusion, JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage de pointe conçu pour fournir une imagerie cristalline et une analyse de précision des matériaux. Sa gamme de caractéristiques et sa capacité à effectuer à différentes conditions de température en font un outil de recherche approprié pour une variété d'industries. C'est l'un des microscopes les plus précis et les plus fiables pour l'imagerie et l'acquisition de données.