Occasion JEOL JSM 6400 #9259735 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et les applications analytiques. Il est spécialement conçu pour répondre aux exigences du microscope moderne avec des caractéristiques innovantes et des performances de haut niveau. Le microscope est équipé d'une résolution point à point de 3,3 nm qui est capable de produire des images haute résolution avec le détecteur EHT-2. Un sas au microscope permet d'introduire des échantillons et de les manipuler en toute sécurité lors de l'imagerie. Cela permet la manipulation d'échantillons pendant l'imagerie, ainsi que le transfert d'échantillons du microscope vers un cryoprobe attaché. L'option de cristallographie JSM 6400 permet l'analyse de structures cristallines, et offre la possibilité de créer des reconstructions 3D de l'ensemble du réseau cristallin. Ceci permet d'identifier plus facilement les phases cristallines, les microstructures et les distributions de défauts. JEOL JSM 6400 est également capable d'effectuer une imagerie au microscope électronique à transmission avancée (TEM). Cette technique avancée d'imagerie peut être utilisée pour analyser davantage les matériaux nanométriques, la nanofabrication et la composition chimique. Il peut être utilisé pour observer des atomes ou des molécules uniques, ce qui est important pour comprendre les propriétés physiques et chimiques à l'échelle du nanomètre. JSM 6400 est un outil polyvalent pour les applications d'imagerie et d'analyse, avec une gamme de fonctionnalités qui lui permettent d'être utilisé pour une variété d'exigences d'application. Ses performances et capacités avancées, combinées à son fonctionnement convivial, en font le choix idéal pour tout microscope moderne.