Occasion JEOL JSM 6400 #9355834 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) conçu pour l'imagerie avancée avec une résolution supérieure et la détection de caractéristiques subtiles. L'instrument offre des performances égales pour une grande variété de tâches d'analyse, y compris l'analyse des défaillances, l'analyse des matériaux, l'inspection électronique des appareils et l'imagerie de spécimens biologiques. Le JSM 6400 coule de 200 à 400 volts de canon à électrons à courant continu (DC) à vide élevé, offrant une haute résolution spatiale de moins de 10nm à tous les grossissements et enregistre des détails fins avec un grossissement maximal de 250,000X. Le microscope est équipé d'un processeur d'imagerie numérique (DIP) pour capturer et enregistrer rapidement des images avec une résolution égale. La fonction d'inclinaison du canon à verrouillage manuel offre un haut niveau de flexibilité, permettant un réglage rapide du canon à électrons et des angles de départ des échantillons pour une imagerie optimale. JEOL JSM 6400 a un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) qui est utile pour l'analyse élémentaire et chimique de la composition avec des méthodes non destructives. Cet outil augmente la précision et la sensibilité dans l'analyse, permettant à l'instrument d'identifier avec précision les oligo-éléments ou la composition. De plus, le SEM est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires (ISE) dans la lentille qui est utilisé pour détecter, analyser et quantifier les caractéristiques de surface. En outre, JSM 6400 fournit des capacités de contrôle complètes et sophistiquées pour les techniques de balayage. Cela inclut la capacité de personnaliser les paramètres de balayage, tels que la taille des points, la taille des marches, la densité des lignes et la tension d'accélération, dans le balayage automatisé. Il offre également des capacités de microanalyse incluant la cartographie de zone automatisée, la cartographie spectrale, la tranche Z, la longue ligne et l'analyse 2D/3D. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6400 offre une résolution supérieure, une flexibilité maximale et des capacités analytiques avancées. Cet instrument profite à un large éventail d'industries, de l'analyse des échecs à la science des matériaux, en offrant des résultats d'imagerie exceptionnels.