Occasion JEOL JSM 6400 #9382242 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM). Le microscope est équipé d'un système d'imagerie qui combine des électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi que des électrons réfléchis en option, ce qui donne une gamme d'informations analytiques à partir d'une surface d'échantillon. Ce système est efficace pour l'imagerie de la topographie de surface, de la forme, de la composition, de la contamination et d'autres caractéristiques de surface. Le JSM 6400 offre une gamme de résolutions allant jusqu'à 0,02 nm. Cette excellente résolution fournit des informations topographiques fines et permet l'imagerie de caractéristiques d'objets nanométriques, telles que des nanoparticules ou des structures atomiques. En outre, JEOL JSM 6400 offre un spectromètre dispersif d'énergie (EDS) de pointe pour l'analyse élémentaire. En combinant les informations des images haute résolution avec l'analyse élémentaire énergétique, les utilisateurs peuvent identifier non seulement la taille des particules ou des caractéristiques, mais aussi la composition. Le JSM 6400 est équipé d'une alimentation électrique de haute stabilité et d'un contrôle d'étage de haute précision. Cela garantit des réglages précis et reproductibles, ainsi qu'un balayage très fiable. Le condenseur à vide, la chambre d'échantillonnage et l'objectif contribuent tous à augmenter la profondeur de focalisation optique et de champ, offrant des images plus vives et un contraste amélioré, même de petites caractéristiques. JEOL JSM 6400 est également équipé d'un microscope électronique à transmission par filtrage d'énergie (EFTEM) qui filtre les électrons qui ont été dégradés en raison d'événements de diffusion multiples, permettant une image de contraste plus élevé. Il dispose également d'un ensemble de détecteurs qui fournissent différents types d'images et de capacités de détection. Ces détecteurs comprennent des détecteurs d'électrons secondaires, des détecteurs d'électrons rétrodiffusés, des détecteurs d'électrons réfléchis, des spectromètres à dispersion d'énergie et des détecteurs de puissance analogique. JSM 6400 dispose également d'une variété d'opérations automatisées, telles que l'alignement et la mise au point des échantillons, la cartographie des mailles et le contrôle des images. Il a une grande chambre et est compatible avec une large gamme de porte-échantillons, ce qui le rend hautement adapté à une large gamme de matériaux. Ces outils polyvalents font de JEOL JSM 6400 une ressource inestimable pour la recherche en sciences de surface, nanotechnologie et analyse des matériaux.