Occasion JEOL JSM 6400F #136301 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) utilisé pour diverses applications de recherche et de fabrication. Il offre une excellente résolution, dispose d'un système beamoptic avec un système d'alignement de focalisation de colonne (CFAS), et est capable de produire des images d'échantillons ultra haute résolution. JEOL JSM 6400 F est équipé d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffuseurs (ESB) et de capacités d'analyse aux rayons X rétractables. Il est capable de fonctionner en mode environnement SEM (ESEM) et en mode vide à une plage de pression de service. L'ajout d'un contrôleur d'étage automatisé permet un alignement automatisé, grossier et un réglage fin du positionnement des échantillons. La source d'électrons produit un faisceau de 4,5 kV, 1,5 pA avec une gamme de déflexion de 10,2 cm et une taille de tache inférieure à 5 μ m. Il dispose d'un système d'alignement de focalisation des colonnes (CFAS) pour fournir une imagerie de contraste élevé. Le canon à émission de champ (FEG) et la chambre de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) offrent des performances optimales. La chambre d'échantillonnage est équipée d'inserts d'étage pour faciliter le balayage des échantillons de petite surface. Le dispositif a une résolution d'image de 0,9 nm et un contraste de taille nucléaire, permettant l'analyse des caractéristiques sur une large gamme de matériaux jusqu'à la résolution atomique. Il peut également être utilisé pour produire des échantillons 3D. JSM 6400F est un instrument hautement personnalisable et des outils tels qu'un schéma de présélection, une correction de décalage d'image et un exemple de focus automatisé sont disponibles en option. Le dispositif est également capable de l'analyse d'imagerie empilée et le fonctionnement de la caméra numérique. Il dispose d'un grand écran avec un panneau tactile couleur de 12,1 pouces qui permet de perfectionner le fonctionnement des données et les fonctions d'affichage. En plus de ses excellentes capacités d'imagerie, JSM 6400 F fournit des capacités complètes de documentation et d'analyse de données. L'ensemble du processus de capture et d'analyse d'images est automatisé, avec un logiciel dédié permettant aux utilisateurs d'utiliser divers outils de traitement et d'analyse d'images. Par exemple, le paquet de capture et d'analyse d'images ProSpec permet aux utilisateurs de visualiser, mesurer et comparer des images d'échantillons.