Occasion JEOL JSM 6400F #293590368 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM). C'est un outil puissant pour la recherche et l'analyse de matériaux, utilisé pour examiner les caractéristiques à l'échelle du nanomètre au micromètre. FE-SEM fournit une intensité d'électrons extrêmement élevée à l'échantillon, ce qui le rend particulièrement adapté à l'examen de matériaux absorbants d'électrons faibles, tels que certains semi-conducteurs. JEOL JSM 6400 F utilise un canon à émission de champ (FEG) pour réaliser son imagerie haute résolution, ce qui se traduit par des images à plus haute résolution par rapport aux SEM classiques. La FEG fournit également une tension d'accélération inférieure à celle des autres appareils, ce qui la rend idéale pour l'imagerie d'échantillons fragiles. Le 6400F offre en outre une gamme de capacités d'analyse, permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire et une cartographie de l'état chimique. Il utilise un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie ultra haute résolution (EDX), capable de détecter des éléments à une résolution allant jusqu'au béryllium (Be). Ceci permet au microscope JSM 6400F de détecter la présence d'impuretés et d'autres états chimiques présents dans un échantillon. De plus, le détecteur de courant induit par le faisceau électronique (EBIC) du microscope peut être utilisé pour détecter des porteurs minoritaires à l'intérieur d'un échantillon. Cela le rend utile pour tracer les jonctions p-n et d'autres caractéristiques sous-microns, comme les voies électriques et les voies. Le 6400F offre également d'autres caractéristiques, telles qu'un petit étage d'échantillonnage et une large gamme de modes classiques et à faible vide. Cela garantit qu'il convient à une variété d'applications, y compris la transmission, la réflexion et l'imagerie rétrodiffusée. JSM 6400 F est un microscope polyvalent et puissant conçu pour des applications en sciences des matériaux. Il offre la plus haute résolution de tout SEM sur le marché et une gamme de capacités analytiques avancées. Idéal pour l'imagerie de matériaux à faible absorption et la détection de fonctionnalités, le 6400F est sûr de répondre aux exigences de tout projet de recherche en sciences des matériaux.