Occasion JEOL JSM 6400F #293595853 à vendre en France
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ID: 293595853
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Field emission gun
Resolution: 1.5 nm at 30 kV and at 8 mm WD
Magnification: 10x to 500000x
Probe current: 10 x 10-12 A to 10 x 10-10 A
Electron gun: Cold cathode field emission
Detectors: Scinitillator / Photomultiplier
GW Electronic system 47 Backscattered detector
Specimen stage: Fully eucentric goniometer stage
Tilt: -5° to 60°
Rotation: 360°
Movements:
X = 100 mm
Y = 110 mm
Z = 34 mm
Specimen exchanger:
Specimen holder airlock, 6"
Larger specimen holder drawout, 8"
EDS Detector: Prism 2000 Si(Li) 30 mm
Imix acquisition system allowing be detection
EBSD Detector: OXFORD HKL Allowing crystallographic orientation
Accelerating Voltage: 500 V to 30 kV
2001 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6400F est un instrument de pointe utilisé pour l'observation et l'analyse d'un large éventail d'échantillons. Il est capable de générer des images à haute résolution de matériaux biologiques, industriels et autres. L'instrument est équipé d'un moteur à grande vitesse, d'un équipement spécial à vide, d'un système de traitement d'image numérique et d'une interface utilisateur interactive. JEOL JSM 6400 F est équipé d'une source électronique de canon à émission de champ (FEG), qui utilise l'émission d'électrons thermionc d'un filament de tungstène chauffé. Cette source d'électrons produit une sonde finement focalisée de très haute luminosité qui est utilisée pour générer des micrographes au microscope électronique à balayage. Le canon est capable d'une gamme de grossissements de 5 à 150 kV, et peut être utilisé pour l'imagerie haute résolution avec une résolution aussi fine que 0,3nm. JSM 6400F dispose également d'un moteur à grande vitesse qui permet de capturer rapidement des images avec une résolution cohérente. La technologie motorscan permet un balayage automatisé très précis sur la surface de l'échantillon, avec des temps d'acquisition d'image aussi rapides que 0,5 millisecondes. Pour garantir la plus haute résolution des images, l'instrument est équipé d'une unité spéciale à vide élevé. Cette machine crée un environnement à vide élevé dans lequel les électrons utilisés pour générer les images de l'échantillon ne subissent aucune collision avec les molécules d'air. Pour garantir la haute qualité des images, JSM 6400 F dispose également d'un ensemble d'émetteurs thermioniques avec une résolution spatiale inférieure à 1 mm. En outre, l'instrument comprend un outil de traitement d'image numérique. Cet atout comprend un ordinateur et un moniteur avec une interface utilisateur interactive. Cette interface permet aux utilisateurs de modifier la taille et l'agrandissement des images, ainsi que d'ajuster la luminosité et le contraste lors de l'acquisition d'images. En résumé, JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage avancé équipé d'un canon à émission de champ, d'un moteur à grande vitesse, d'un modèle spécial à vide, d'un ensemble d'émetteurs thermiques et d'un équipement de traitement d'image numérique avec interface utilisateur interactive. Cet instrument sophistiqué est capable de produire des images vives et à haute résolution avec des vitesses qui permettent aux utilisateurs d'observer des événements dynamiques.
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