Occasion JEOL JSM 6400F #9065264 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à analyse et imagerie avancée (SEM). JEOL JSM 6400 F offre des images ultra haute résolution pour l'examen détaillé d'une large gamme d'échantillons. Il dispose d'un champ de vision ultra-large incluant une grande chambre d'échantillonnage, ce qui le rend idéal pour la recherche dans les domaines de la biologie, de la médecine, des sciences des matériaux et des industries des semi-conducteurs. Il est équipé d'une colonne d'électrons haute performance, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusé avancé et d'une flexibilité qui permet aux utilisateurs d'accéder à une gamme de techniques spécialisées, y compris la cartographie élémentaire, le 3D-reconstruction et les capacités d'imagerie biologique. La colonne de JSM 6400F est constituée d'une technologie d'optique électronique à ultra haute résolution (UHR). Cette technologie est conçue pour minimiser l'aberration et maximiser le champ de vision libre. Il permet aux utilisateurs d'obtenir des images à plus haute résolution que les instruments SEM classiques. La capacité basse tension intégrée de JSM 6400 F assure une imagerie stable avec des tensions d'accélération plus faibles (< 5kV) pour des échantillons organiques délicats. JEOL JSM 6400F est également équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), fournissant une image de contraste vidéo avec des informations de surface directes. Il améliore considérablement le rapport signal/bruit et rend l'âge de l'échantillon quantitatif sur une large gamme d'échantillons. Le système intégré Low-vacuum assure la stabilité de l'échantillon en minimisant la contamination et la réduction du bruit pendant le fonctionnement à long terme, de l'ultra-haut vide (UHV) à haut vide (HV). Du point de vue de la flexibilité, JEOL JSM 6400 F est capable d'accéder à une gamme de techniques analytiques et reflétantes spécialisées, telles que la reconstruction 3D, la cartographie reflétante et élémentaire reflétante, spectrale biologique, en le rendant convenable pour de nombreux types d'applications de caractérisation matérielles. De plus, le système automatisé inclus permet aux utilisateurs de capturer des images à haute résolution rapidement et facilement. L'étape de balayage de JSM 6400F peut être contrôlée à distance par une interface logicielle intuitive, permettant aux utilisateurs de contrôler la taille des zones analysées et de capturer un champ de vision plus large. En résumé, JSM 6400 F est un SEM polyvalent et puissant pour les techniques d'imagerie et d'analyse avancées. Ses caractéristiques de grand champ de vision, sa colonne électronique avancée et son option basse tension d'accélération le rendent adapté aux applications dans les sciences des matériaux, l'industrie des semi-conducteurs et la recherche biologique et médicale. En outre, sa flexibilité et son système hautement automatisé en font un outil économique et efficace pour une analyse matérielle et biologique détaillée.