Occasion JEOL JSM 6400F #9102730 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FESEM) qui combine des fonctionnalités avancées et de petite taille pour fournir des outils d'imagerie, d'analyse et de mesure de haute performance pour un large éventail d'applications de recherche de matériaux. JEOL JSM 6400 F utilise un canon à émission de champ unique (FEG) qui produit des électrons avec une taille de tache de faisceau aussi petite qu'un nanomètre. Ceci est combiné avec une conception de triple canon unique et des technologies de pointe pour éliminer la charge d'échantillons et les effets de surface. Le flux de travail monolithique intègre des détecteurs doubles pour l'imagerie simultanée, permettant l'imagerie haute résolution, l'analyse chimique et la topographie de surface avec une précision inégalée. La chambre de prélèvement fournit également des niveaux de vide aussi bas que 1x10-6 Pa, ce qui la rend idéale pour les études de surface haute résolution et les phénomènes optiques. JSM 6400F offre des avantages clés en matière d'imagerie, d'analyse et de mesure du rendement. L'optique électronique haute résolution et la résolution des pixels jusqu'à 8nm permettent l'imagerie de minuscules caractéristiques avec une clarté imbattable. Les capacités de microscopie à Auger (SAM) et de spectrométrie à dispersion de l'énergie des rayons X (EDS) permettent l'analyse chimique de spécimens avec précision au niveau atomique. Les technologies de pointe, y compris la spectroscopie dispersive en longueur d'onde (WDS) et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD), permettent l'imagerie chimique et cristallographique en 3D dans les zones nano. En outre, l'environnement à faible dépression garantit également qu'aucun changement ne se produira au cours du processus d'imagerie, permettant une imagerie fiable au cours d'expériences à long terme. JSM 6400 F dispose d'une interface logicielle conviviale et intuitive qui permet de contrôler efficacement tous les paramètres opérationnels et les paramètres du système. Cette interface permet également la saisie et l'intégration de données en temps réel avec d'autres outils d'analyse. Les outils automatisés de préparation des échantillons aident à réduire le temps consacré à la préparation des échantillons, tandis que les outils automatisés d'analyse permettent l'analyse des données de microscopie en quelques clics de souris. JEOL JSM 6400F est un excellent choix pour la recherche et le développement dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux, de la physique des semi-conducteurs et des dispositifs semi-conducteurs.