Occasion JEOL JSM 6400F #9232673 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour fournir une imagerie haute résolution ainsi qu'une grande variété de capacités analytiques. Il utilise des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des électrons réfléchis pour créer des images vives et détaillées avec une profondeur de champ profonde. L'instrument est équipé d'une variété de porte-spécimens et d'étages pour accueillir une variété de tailles et de formes d'échantillons. Avec un canon à ions intégré et un canon à électrons, JEOL JSM 6400 F est en mesure de générer des échantillons de haute qualité de surface permettant une imagerie précise et précise. Les microscopes sont équipés d'un canon à cathode froide à émission de champ (FEG) capable de générer un fort courant de faisceau d'électrons pour augmenter la luminosité et la vitesse d'imagerie. De plus, la technologie Ceta brevetée Elite FEG permet une mesure plus précise du courant du faisceau, une luminosité accrue, une durée de vie plus longue et des faisceaux d'électrons plus étroits. Cette miniaturisation de JEOL Elites FEG permet un fonctionnement à des courants plus faibles et un contrôle plus précis de l'analyse des échantillons. JSM 6400F est construit avec une interface utilisateur intuitive et un logiciel facile à configurer qui permet à l'utilisateur de personnaliser rapidement les paramètres de l'instrument. De plus, ce microscope dispose d'un étage automatisé et de lentilles interchangeables pour garantir des résultats précis et reproductibles. En termes de capacités analytiques, JSM 6400 F est capable d'une variété de cartographie élémentaire, d'analyse chimique et de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). Sa capacité EDS est haute résolution et précise, avec la capacité de mesurer jusqu'à éléments 5 avec 1-3 keV résolution. En outre, le microscope peut être utilisé pour l'imagerie 3D avec sa grande profondeur de champ et ses capacités de faisceau ionique focalisé. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6400F est un puissant microscope électronique à balayage polyvalent capable de produire des images détaillées et des analyses très précises. Avec son large éventail de capacités opérationnelles et ses conceptions sophistiquées, cet instrument est idéal pour une grande variété d'applications.