Occasion JEOL JSM 6400F #9236172 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de spécimens à haute résolution. Ses caractéristiques et capacités uniques le rendent adapté à une variété d'applications de recherche, y compris la science des matériaux, la micro-fabrication, la nanotech, la médecine et la criminalistique. JEOL JSM 6400 F utilise un canon à émission de champ à haute résolution recouvert de zéolithe (FEG) et une tension d'accélération de 0,15 kV à 30 kV. Avec cette dynamique, les chercheurs peuvent caractériser des échantillons allant de matériaux non conducteurs à des échantillons hautement conducteurs. Le microscope peut fonctionner en mode d'imagerie SE ou ESB, et l'équipement de nivellement des échantillons contrôlé par microprocesseur assure une imagerie précise. JSM 6400F dispose également d'un système de traitement d'image numérique unique, qui peut être utilisé pour optimiser les conditions d'imagerie et améliorer le contraste. Il existe également un appareil photo numérique avec trois rétroéclairages LED RVB, qui permet aux utilisateurs de capturer des images avec une gamme de couleurs allant jusqu'à 24,5 millions de couleurs. Le microscope utilise également une unité de balayage par étage alimentée par une machine de focalisation automatique, permettant des tailles d'échantillons ultra-petites allant jusqu'à 30 nm. L'optique électronique avancée du JSM 6400 F permet des résolutions plus élevées que celles des microscopes optiques. La résolution peut encore être améliorée en utilisant les détecteurs optionnels dans les lentilles. De plus, l'analyse des spectres à résolution temporelle est possible en utilisant les systèmes EELS et EDX intégrés à résolution temporelle. Le logiciel intégré permet aux utilisateurs d'analyser rapidement leurs données et de générer des reconstructions 3D. JEOL JSM 6400F est également équipé d'un logiciel puissant, comprenant des fonctionnalités telles que la navigation automatisée des échantillons et l'acquisition automatique. Ces fonctionnalités facilitent et accélèrent l'image et l'analyse des échantillons. Le microscope est également compatible avec une large gamme d'accessoires et d'appareils, permettant aux utilisateurs d'étendre encore ses capacités. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6400 F est un microscope électronique à balayage avancé à haute performance qui fournit une excellente résolution et contraste, permettant aux chercheurs d'imaginer et d'analyser une variété de matériaux rapidement et efficacement.