Occasion JEOL JSM 6400F #9316404 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour un large éventail d'applications. L'instrument dispose d'un grand étage de 200 mm pour les échantillons jusqu'à 6 kg et d'un grand champ de vision jusqu'à 300mm, offrant une manipulation et un enregistrement des échantillons supérieurs. Le microscope comprend également un spectromètre dispersif d'énergie (EDS), qui permet une analyse quantitative sur l'échantillon. L'EDS dispose également d'un mode de balayage continu, permettant à l'opérateur d'analyser rapidement et précisément une grande surface. JEOL JSM 6400 F utilise une source d'électrons sans fil à haute résolution d'émission de champ de tungstène pour obtenir la meilleure résolution d'imagerie possible et la stabilité de l'image. La source FEG offre une luminosité élevée avec une résolution et un contraste améliorés pour tous les échantillons, et fournit une gamme de fonctionnement étendue pour l'imagerie ultra haute résolution. De plus, la source FEG émet un véritable éclairage à faible angle, caractéristique qui améliore encore la qualité et la capacité d'imagerie de l'instrument. JSM 6400F a une grande variété de porte-échantillons compatibles avec la scène de l'instrument, qui sont conçus pour accueillir une gamme de tailles et de formes d'échantillons pour un placement précis et cohérent de l'échantillon. L'étage offre une stabilité mécanique robuste et est équipé d'une capacité d'échange automatique d'échantillons qui permet l'échange d'échantillons sans casser le vide. La capacité d'échange automatisé permet également un fonctionnement polyvalent en mode basse dépression pour la protection ultime des échantillons. JSM 6400 F comprend une large gamme de modes d'imagerie, y compris la microscopie électronique à balayage basse tension, avec des détecteurs à incrustations et à fond, pour une caractérisation optimale des échantillons. En plus de l'imagerie en champ lumineux et en champ noir, les utilisateurs peuvent également enregistrer des électrons rétrodiffusés et secondaires du même champ spécimen, pour la capture des trois composantes du signal. L'instrument est également équipé de capacités d'imagerie numérique et d'automatisation, qui permettent à l'utilisateur d'accéder et d'analyser ses images depuis n'importe quel endroit. JEOL JSM 6400F dispose d'une grande zone d'échange d'échantillons et de vitesses d'acquisition rapides, ce qui le rend idéal pour les analyses rapides d'échantillons, et sa conception modulaire simplifie la maintenance. L'instrument est également équipé d'une interface utilisateur intuitive qui permet aux utilisateurs de travailler rapidement et d'interpréter les données. L'interface utilisateur comprend également des fonctions de sécurité étendues qui sont conçues pour assurer un fonctionnement sûr.