Occasion JEOL JSM 6401F #9195987 à vendre en France
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ID: 9195987
Scanning electron microscope (SEM)
With FEG
Components:
Chiller: Water recirculator R075
Digital image archiving system US-ARC64
Alden digital continuous tone thermal printer
External computer control interface
GW Electronics infrared chamberscope.
JEOL JSM 6401F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise des électrons pour représenter un échantillon. Il fonctionne en focalisant un faisceau d'électrons sur l'échantillon qui peut ensuite être balayé sur la région d'intérêt. Les électrons interagissent avec la matière, ce qui finit par faire fuir les électrons secondaires de la surface qui peut alors être détectée et former une image. JSM 6401F dispose d'une large gamme de fonctionnalités qui permettent un fonctionnement polyvalent. Il est équipé d'un pistolet à émission de champ qui permet l'imagerie haute résolution des plus petits échantillons. Le canon est capable de produire des énergies électroniques allant de 0,5 à 30 kV, permettant une flexibilité maximale dans différents paramètres de fonctionnement. Il comprend également une chambre à pression variable, ce qui le rend idéal pour l'imagerie d'échantillons délicats. JEOL JSM 6401F comprend une variété d'autres fonctionnalités qui le rendent très utile pour un large éventail d'applications. Il a un système de focalisation automatique qui peut détecter et ajuster automatiquement le foyer du faisceau d'électrons au fur et à mesure que l'échantillon est balayé. Il dispose également d'un système 5 axes avec plusieurs étages qui permettent un positionnement précis de l'échantillon. JSM 6401F peut être utilisé en conjonction avec divers détecteurs pour permettre une gamme de techniques d'imagerie. Il s'agit notamment de l'imagerie SEM classique, de l'imagerie des électrons rétrodiffusés (ESB), de l'imagerie des électrons secondaires (SE) et de la spectroscopie des rayons X dispersive d'énergie (EDX). De plus, le microscope comprend une gamme d'autres accessoires qui peuvent être utilisés, tels que des porte-échantillons, des porte-échantillons cryogéniques et des systèmes de refroidissement à l'azote liquide. JEOL JSM 6401F est un SEM puissant et polyvalent qui peut être utilisé dans divers domaines de recherche, y compris la science des matériaux, le génie biomédical, la criminalistique et la géologie, entre autres. Sa large gamme de fonctionnalités et d'accessoires en font un excellent choix pour les utilisateurs novices et les scientifiques expérimentés.
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