Occasion JEOL JSM 6401F #9283953 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6401F (SEM) possède une colonne haute performance de 5,5 mm qui est optimisée pour une résolution fine des échantillons. La conception avancée du système d'alignement permet un réglage rapide et précis du grossissement, ce qui donne une excellente résolution de détail. Le moteur d'étage utilisé est lisse et précis, permettant un positionnement précis des échantillons. Le détecteur SE adapte et optimise le détecteur à la sortie du canon à électrons, et le détecteur d'électrons rétrodiffusé permet une imagerie de contraste supérieure. JSM 6401F offre une variété de fonctionnalités, y compris l'optimisation automatique du courant de sonde électronique et de la tension d'accélération, l'imagerie numérique, et un système breveté de blanc de faisceau d'électrons pour une résolution améliorée. Cela permet un réglage précis du faisceau d'électrons afin de minimiser les effets de charge et d'améliorer la clarté des échantillons. L'unité comprend également un système d'inclinaison post-foucault intégré qui fournit des inclinaisons de 4 à 8 degrés dans les deux sens pour obtenir des images obliquement inclinées. JEOL JSM 6401F offre également une variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée ; contraste d'interférence différentiel ; microscopie électronique à balayage ; et l'imagerie électronique secondaire. Le mode d'imagerie électronique secondaire produit des images à haute résolution de la surface de l'échantillon et est particulièrement utile pour obtenir des informations sur la topographie de surface, la structure de surface, la chimie de surface et les relations structure-fonction de surface. En plus des capacités d'imagerie, JSM 6401F peut également être utilisé pour analyser la composition du spécimen. Son spectromètre à rayons X dispersifs en énergie (analyse EDS) est capable de détecter des éléments dans un large éventail de concentrations. L'unité peut également être utilisée pour effectuer la stimulation du faisceau électronique (EBS) des échantillons et peut mesurer les propriétés électriques, magnétiques, optiques et électroniques de l'échantillon. D'un point de vue structurel, JEOL JSM 6401F est une unité compacte tout-en-un qui est à la fois légère et facile à utiliser. La colonne et le détecteur sont intégrés directement dans l'unité, et l'objectif est conçu pour se déplacer avec une gigue minimale, offrant le plus haut niveau de performance et de précision. En résumé, JSM 6401F Scanning Electron Microscope est un instrument avancé et très polyvalent qui offre une excellente résolution, une variété de capacités d'imagerie et d'analyse, et une conception structurelle robuste. Avec ses caractéristiques impressionnantes et sa fiabilité, ce SEM est un excellent choix pour la recherche et les applications industrielles.