Occasion JEOL JSM 6401F #9288544 à vendre en France

JEOL JSM 6401F
ID: 9288544
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6401F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des images et des fonctionnalités de haute précision pour aider les utilisateurs dans les domaines de la science des matériaux, de la biologie et de l'ingénierie des semi-conducteurs. Cet instrument de pointe a une grande distance de travail, une longue portée de course sur scène et une extraordinaire haute résolution de 0,4nm pour une distance de travail de 30mm. Il atteint cette résolution grâce à sa source d'électrons à canon à émission de champ (FEG) qui utilise une lentille focalisée sur les électrons pour créer un faisceau d'électrons extrêmement lumineux et très concentré. Cette haute luminosité du faisceau d'électrons améliore le contraste d'imagerie, la résolution de l'image et garantit la plus grande précision. JSM 6401F permet aux utilisateurs de faire des observations des fonctionnalités 2D et 3D à travers différents modes, tels que l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie de champ lumineux fiable et l'imagerie auto-in-focus. De plus, le champ sombre annulaire à angle élevé (HAADF) fournit une analyse de structure cristalline plus puissante que l'imagerie de champ lumineux classique. Grâce à l'utilisation de l'imagerie HAADF, les utilisateurs peuvent mesurer et quantifier avec précision les structures fines. Le détecteur secondaire de transmission d'électrons offre plusieurs options telles que multi-stop, luminosité et contraste, gamma, croisement variable, fond d'électrons et positionnement d'images. Cette variété de fonctions permet de faire ressortir les moindres détails de presque n'importe quel insecte, minéral ou autre objet. Grâce à ses agrandissements polyvalents et à son large éventail de distances de travail, JEOL JSM 6401F est idéal pour les applications de microscopie scientifique de routine et de haut de gamme. Avec une variété de réglages de canon à électrons, l'instrument peut également être utilisé pour observer des objets qui sont particulièrement difficiles à imager tels que des composants microélectroniques, des polymères, des métaux et des oxydes, ainsi que des organites cellulaires, des cellules vivantes, des échantillons de tissus, et d'autres. En bref, JSM 6401F est un microscope électronique à balayage très polyvalent et puissant doté d'une technologie d'imagerie sophistiquée qui peut être appliqué à diverses observations et environnements. C'est un excellent choix pour tous ceux qui ont besoin d'images finement détaillées et de mesures précises en raison de ses excellentes caractéristiques, telles que haute résolution, contraste élevé, et large gamme d'applications.
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